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PX9002A パラレルパラメトリックテストシステム

Keysight PX9002A パラレル・パラメトリック・テスト・システムは、IV測定、静電容量測定、周波数測定、パルス測定など幅広いパラメトリック測定に対応する、独自のピン単位パラメトリック・テスト・ユニットを搭載しています。強力なピン単位テスト機能と高度な並列化により、テストスループットを大幅に向上させます。

製品画像

  • 最大測定ピン数

    50

  • 最小電流測定分解能

    2 µV

  • 追加機能

    SPGU output, CV measurement

  • 最小電流測定分解能

    0.1 fA

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ハイライト

  • キーサイト4080シリーズ・パラメトリック・テスト・システムを使用中の幅広い半導体メーカーに向けた、最高クラスのスループットを実現するパラレル・パラメトリック・テスト・ソリューション
  • 各ピン最大100 Vに対応するSMUを備えた、50ピン並列パラメトリック測定機能
  • IV測定、キャパシタンス測定、周波数測定、パルス測定などに対応した、真のピン単位パラメトリック・テスト・ユニット
  • キーサイト4080シリーズ環境からの容易な移行 
  • Keysight 4080シリーズとの実績あるデータ相関

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