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PX9002A 병렬 파라메트릭 테스트 시스템

키사이트 PX9002A 병렬 파라메트릭 테스트 시스템은 IV 측정, 커패시턴스 측정, 주파수 측정 및 펄스 측정을 포함한 다양한 파라메트릭 테스트 기능을 갖춘 독보적인 핀별 파라메트릭 테스트 유닛을 탑재하고 있습니다. 강력한 핀별 테스트 기능과 우수한 병렬화 기능을 통해 처리량을 획기적으로 향상시킵니다.

제품 이미지

  • Maximum number of measurement pins

    50

  • Minimum voltage measurement resolution

    2 µV

  • Additional features

    SPGU output, CV measurement

  • 최소 전류 측정 분해능

    0.1 fA

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견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

  • 키사이트 4080 시리즈 파라메트릭 테스트 시스템을 현재 사용하는 광범위한 반도체 제조업체를 위한 최고 처리량 병렬 파라메트릭 테스트 솔루션
  • 핀당 100V SMU를 갖춘 50핀 병렬 테스트 측정 기능
  • IV 측정, 커패시턴스 측정, 주파수 측정 및 펄스 측정과 같은 다양한 파라메트릭 테스트 기능을 갖춘 진정한 핀별 파라메트릭 테스트 장치
  • 키사이트 4080 시리즈 환경에서 쉬운 마이그레이션 
  • 키사이트 4080 시리즈와의 검증된 데이터 상관관계

서비스 및 지원