PX9002A Paralleles parametrisches Testsystem

Das Keysight PX9002A Parallel-Parametrische Testsystem verfügt über eine einzigartige Pin-basierte Parametrierungseinheit mit vielfältigen Testfunktionen wie Strom-Spannungs-Messung, Kapazitätsmessung, Frequenzmessung und Impulsmessung. Dank seiner leistungsstarken Pin-basierten Testfunktionen und der starken Parallelisierungsfunktion wird der Durchsatz deutlich gesteigert.

Produktbild
  • Maximum number of measurement pins

    50

  • Minimum voltage measurement resolution

    2 µV

  • Additional features

    SPGU output, CV measurement

  • Minimum current measurement resolution

    0.1 fA

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Highlights

  • Die Lösung für parallele parametrische Tests mit höchstem Durchsatz für eine breite Palette von Halbleiterherstellern, die derzeit das parametrische Testsystem der Keysight 4080-Serie verwenden.
  • 50-polige parallele Testmessfunktion mit 100 V pro Pin SMU
  • Echtes parametrisches Testgerät pro Pin mit verschiedenen parametrischen Testfunktionen wie IV-Messung, Kapazitätsmessung, Frequenzmessung und Impulsmessung
  • Einfache Migration von einer Keysight 4080-Serienumgebung 
  • Nachgewiesene Datenkorrelation mit der Keysight 4080-Serie