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IDIOMA
Soluciones de pruebas paramétricas Sistemas de pruebas a nivel de oblea para la validación paramétrica
Modelo: NX6002A
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Sistema de pruebas paramétricas paralelas PX9002A
El sistema de pruebas paramétricas paralelas PX9002A de Keysight cuenta con una unidad de pruebas paramétricas por pin única con una amplia gama de capacidades de pruebas paramétricas, como medición IV, medición de capacitancia, medición de frecuencia y medición por pulsos. Mejora significativamente el rendimiento gracias a sus potentes capacidades de pruebas por pin y su sólida función de paralelización.
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Maximum number of measurement pins
50
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Minimum voltage measurement resolution
2 µV
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Additional features
SPGU output, CV measurement
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Minimum current measurement resolution
0.1 fA
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Destacados
- Solución de pruebas paramétricas paralelas de mayor rendimiento para una amplia gama de fabricantes de semiconductores que actualmente utilizan el sistema de pruebas paramétricas de la serie 4080 de Keysight.
- Capacidad de medición de prueba paralela de 50 pines con SMU de 100 V por pin.
- Unidad de prueba paramétrica verdadera por pin con diversas capacidades de prueba paramétrica, tales como medición IV, medición de capacitancia, medición frecuente y medición pulsada.
- Fácil migración desde el entorno Keysight serie 4080
- Correlación de datos probada con la serie Keysight 4080.
Servicios y asistencia
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Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
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