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Système de test paramétrique parallèle PX9002A

Le système de test paramétrique parallèle Keysight PX9002A dispose d'une unité de test paramétrique unique par broche offrant toute une gamme de capacités de test paramétrique, telles que la mesure IV, la mesure de capacité, la mesure de fréquence et la mesure pulsée. Il améliore considérablement le débit grâce à ses puissantes capacités de test par broche et à sa fonction de parallélisation performante.

image_produit

  • Maximum number of measurement pins

    50

  • Minimum voltage measurement resolution

    2 µV

  • Additional features

    SPGU output, CV measurement

  • Minimum current measurement resolution

    0.1 fA

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Prêt pour un devis

Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

  • Solution de test paramétrique parallèle à haut débit pour un large éventail de fabricants de semi-conducteurs utilisant actuellement le système de test paramétrique Keysight série 4080.
  • Capacité de mesure parallèle à 50 broches avec SMU de 100 V par broche
  • Véritable unité de test paramétrique par broche avec diverses capacités de test paramétrique telles que la mesure IV, la mesure de capacité, la mesure fréquente et la mesure pulsée.
  • Migration facile depuis l'environnement Keysight série 4080 
  • Corrélation des données éprouvée avec la série Keysight 4080

Services et assistance