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LÍNGUA
Soluções de teste paramétrico Sistemas de teste em nível de wafer para validação paramétrica
Modelo: NX6002A
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- Visão geral
- Opções
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- Software
- Suporte
Sistema de teste paramétrico paralelo PX9002A
O sistema de teste paramétrico paralelo Keysight PX9002A possui uma unidade de teste paramétrico exclusiva por pino com uma variedade de recursos de teste paramétrico, como medição IV, medição de capacitância, medição de frequência e medição pulsada. Ele melhora significativamente o rendimento com seus poderosos recursos de teste por pino e forte função de paralelização.
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Número Máximo de Pinos de Medição
50
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Resolução Mínima de Medição de Tensão
2 µV
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Características adicionais
SPGU output, CV measurement
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Resolução Mínima de Medição de Corrente
0.1 fA
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Destaques
- Solução de teste paramétrico paralelo com o mais alto rendimento para uma ampla gama de fabricantes de semicondutores que atualmente utilizam o Sistema de Teste Paramétrico da série Keysight 4080.
- Capacidade de medição de teste paralelo de 50 pinos com SMU de 100 V por pino
- Unidade de teste paramétrico verdadeiramente por pino com várias capacidades de teste paramétrico, tais como medição IV, medição de capacitância, medição frequente e medição pulsada.
- Migração fácil do ambiente da série Keysight 4080
- Correlação de dados comprovada com a série Keysight 4080
Serviços e suporte
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