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x1149バウンダリ・スキャン・アナライザ

新しいx1149バウンダリ・スキャン・アナライザは、IEEE1149.x規格に基づくJTAG技術の強力なバウンダリスキャンによる電気構造テスト用のツールです。

製品画像

  • Tap IO ports

    4

  • Remote test configurability

    Yes

  • CET ports

    1

  • System width

    120 mm

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ハイライト

x1149 バウンダリ・スキャン・アナライザ、多目的で簡単に使用できる基板テストツール

x1149は、エンジニア向けのPCBAの構造テスト（オープン／ショートテストなど）用のツールです。 また、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)や複合プログラマブル・ロジック・デバイス (CPLD)などのデバイスのインシステムプログラミングも可能です。

さらに、x1149はPROM (Programmable Read-Only Memory) デバイスをプログラムし、DDR SDRAM (Double Data Rate Synchronous Dynamic Random-Access Memory) などのデバイスのメモリ検証テストを実行します。これにより、これらのデバイスをインシステムでプログラムおよび再プログラムでき、開発時の柔軟性と制御性が向上します。 高度なテスト機能と使いやすいソフトウェアを備えたキーサイトx1149は、回路基板テストのあらゆるニーズに対応する理想的なソリューションです。

x1149 2.1の機能

  • IEEE規格
    • 1149.1-2013 (新)
    • 1149.6-2015 (新)
    • 1149.1-2001
    • 1149.6-2003
    • 1687-2014
  • インサートソース言語(ISL) 2.0を搭載したカスタムテスト
  • オートバンクおよびスキャン・パス・リンカをサポート
  • 1149.1および1149.6-2015規格のための新しいBSDLエクステンション
  • 1149.1規格と1149.6規格の両方で、IPパッケージとプログラマブル機能をより柔軟にサポート

テスト開発

  • コネクタおよび非バウンダリスキャンICのテストカバレージを最大化
  • 優れたデバッグツール
  • すぐに利用できるピンレベルの不具合レポート
  • インシステムプログラミング

アプリケーション

  • Netcom、サーバー製品、および自動車顧客のための優れたテストカバレッジ
  • 基板テストおよび内蔵測定システムテスト用IEEE 1687ソリューション
  • スキャン・パス・リンカの自動設定

サービスとサポート