Column Control DTX
AFM-based Nanolithography via Electrochemical Reactions

AFM-based Nanolithography via Electrochemical Reactions

アプリケーションノート

The Keysight Technologies, Inc. 7500 AFM system is comprised of a sealed environmental chamber with a builtin sensor to monitor the local relative humidity (RH) and temperature around the sample. In addition, the eight preset ports through to the chamber at the AFM base allow the easy incorporation of 7500 AFM with an external gas humidiication system, thus allowing the control of the RH during AFM measurements.

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