Column Control DTX
5600LS AFM Enhanced Sample Versatility: 2-Inch Multi-Sample Wafer Vacuum Chuck

5600LS AFM Enhanced Sample Versatility: 2-Inch Multi-Sample Wafer Vacuum Chuck

データシート

The Keysight Technologies, Inc. 5600LS AFM, already one of the most versatile atomic force microscopy systems on the market (with a fully programmable 200mm stage that allows complete access over a full 200mm in X/Y travel), has added yet another highly useful configuration.

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