Como realizar medições combinadas de CV por via intravenosa

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Realizar testes integrados de IV e CV

As medições combinadas de corrente-tensão (IV) e capacitância-tensão (CV) exigem um controle coordenado das unidades de medição de fonte e do hardware de medição de capacitância dentro de uma configuração de teste unificada. O sistema de medição deve suportar tanto medições IV baseadas em triaxial quanto medições CV baseadas em coaxial, mantendo a integridade do sinal, a proteção e os caminhos de retorno adequados para garantir a precisão em diferentes modos de medição.

A configuração da medição envolve a configuração de cabeamento compartilhado e mecanismos de comutação para permitir transições contínuas entre medições de tensão de entrada (IV) e corrente de entrada (CV) sem a necessidade de reconfigurar fisicamente as conexões. A precisão dos resultados depende da minimização dos efeitos parasitários, da estabilização dos caminhos de medição e da aplicação de técnicas de compensação, mantendo condições consistentes de sondagem no dispositivo em teste.

Solução integrada para medição de CV intravenosa

A realização de medições combinadas IV e CV requer uma arquitetura de medição unificada capaz de alternar entre os modos corrente-tensão e capacitância-tensão sem alterar as conexões físicas. A solução integra um analisador de dispositivos semicondutores com unidades de medição de fonte, uma unidade de medição de capacitância multifrequencial e uma unidade de comutação que unifica os caminhos IV e CV. O sistema permite a alternância automática entre os modos de medição, mantém caminhos de proteção e retorno adequados e oferece suporte à compensação de erros por meio de controle de software. Recursos adicionais incluem tensão de polarização estendida para medições CV, execução automatizada de testes e configuração simplificada usando algoritmos de medição predefinidos, permitindo a caracterização eficiente e repetível de dispositivos.
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  • Analisador de parâmetros de dispositivos semicondutores B1500A / Mainframe do sistema de caracterização de semicondutores

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