Como integrar o Boundary Scan ao teste em circuito

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Integração do Boundary Scan para testes de fabricação

A integração do boundary scan requer um ambiente de teste de fabricação capaz de coordenar a análise do boundary scan, os testes elétricos em circuito e a validação da placa de circuito impresso (PCB) dentro de uma estrutura de teste unificada. A configuração requer um controlador de boundary scan, um sistema de teste em circuito (ICT), uma interface de acesso para testes e conexões de fixação para garantir uma comunicação de sinal estável, a execução sincronizada dos testes e um acesso confiável às interconexões no nível da placa durante as operações de teste de fabricação.

A configuração de integração permite que os diagnósticos de varredura de limites e as medições de teste em circuito operem dentro da mesma sequência de teste, possibilitando que a verificação das interconexões, o acesso aos dispositivos e a validação do caminho do sinal sejam realizados durante os testes em nível de placa. As interfaces de controle de teste e os canais de comunicação são utilizados para coordenar o tempo de medição, gerenciar a execução dos testes e manter fluxos de trabalho repetíveis de validação de PCB em todos os ambientes de fabricação.

Boundary Scan integrado com solução ICT

A integração do boundary scan com o ICT requer uma plataforma de teste de fabricação unificada, capaz de coordenar a execução dos testes, mantendo a integridade do sinal e minimizando a complexidade do sistema. O analisador de varredura de limites Keysight x1149 trabalha em conjunto com o sistema ICT de alta densidade em linha para realizar testes de varredura de limites e testes em circuito dentro de um único ambiente de teste de fabricação. Essa integração de testes reduz a necessidade de configurações de teste separadas, simplifica a implementação de acessórios e melhora a confiabilidade da comunicação do Joint Test Action Group (JTAG) por meio de conectividade de hardware coordenada e sequenciamento de testes controlado. A solução permite que o sistema de teste gerencie a comunicação entre o controlador de varredura de limite, o dispositivo de teste e o dispositivo em teste por meio de fluxos de trabalho de software sincronizados e execução automatizada de testes. Ao sincronizar operações de varredura de limite, medições de teste em circuito e tratamento de resultados dentro de um ambiente de plano de teste unificado, a solução agiliza os processos de desenvolvimento, depuração e testes de produção. Juntas, essas capacidades melhoram a eficiência dos testes, aumentam a cobertura de falhas e oferecem suporte à validação confiável de conjuntos complexos de placas de circuito impresso.
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Veja o diagrama de blocos da solução integrada de Boundary Scan com ICT

Diagrama de blocos da solução integrada de varredura de borda com teste em circuito

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