Cómo integrar el Boundary Scan con las pruebas en circuito

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Integración de Boundary Scan para pruebas de fabricación

La integración del boundary scan requiere un entorno de pruebas de fabricación capaz de coordinar el análisis boundary scan, las pruebas eléctricas en circuito y la validación de placas de circuito impreso (PCB) dentro de un marco de pruebas unificado. La configuración requiere un controlador boundary scan, un sistema de pruebas en circuito (ICT), una interfaz de acceso a pruebas y conexiones de fijación para garantizar una comunicación de señales estable, una ejecución sincronizada de las pruebas y un acceso fiable a las interconexiones a nivel de placa durante las operaciones de pruebas de fabricación.

La configuración de integración permite que los diagnósticos de escaneo de límites y las mediciones de pruebas en circuito se realicen dentro de la misma secuencia de pruebas, lo que permite llevar a cabo la verificación de las interconexiones, el acceso a los dispositivos y la validación de las rutas de señal durante las pruebas a nivel de placa. Las interfaces de control de pruebas y los enlaces de comunicación se utilizan para coordinar la sincronización de las mediciones, gestionar la ejecución de las pruebas y mantener flujos de trabajo repetibles de validación de placas de circuito impreso en todos los entornos de fabricación.

Escaneo de límites integrado con solución ICT

La integración del boundary scan con el ICT requiere una plataforma de pruebas de fabricación unificada, capaz de coordinar la ejecución de las pruebas al tiempo que mantiene la integridad de la señal y minimiza la complejidad del sistema. El analizador de escaneo de límites x1149 de Keysight funciona conjuntamente con el sistema ICT en línea de alta densidad para realizar pruebas de escaneo de límites y pruebas en circuito dentro de un único entorno de pruebas de fabricación. Esta integración de pruebas reduce la necesidad de configuraciones de prueba separadas, simplifica la implementación de los accesorios y mejora la fiabilidad de la comunicación del Joint Test Action Group (JTAG) mediante una conectividad de hardware coordinada y una secuencia de pruebas controlada. La solución permite al sistema de pruebas gestionar la comunicación entre el controlador de escaneo de límites, el dispositivo de fijación y el dispositivo bajo prueba mediante flujos de trabajo de software sincronizados y la ejecución automatizada de pruebas. Al sincronizar las operaciones de escaneo de límites, las mediciones de pruebas en circuito y el manejo de resultados dentro de un entorno de plan de pruebas unificado, la solución agiliza los procesos de desarrollo, depuración y pruebas de producción. En conjunto, estas capacidades mejoran la eficiencia de las pruebas, aumentan la cobertura de fallos y permiten una validación fiable de conjuntos complejos de placas de circuito impreso.
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Véase el diagrama de bloques de la solución integrada de escaneo de límites con ICT

Diagrama de bloques de una solución integrada de escaneo de límites con prueba en circuito

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