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O que você está procurando?
O 3D Interconnect Designer oferece um ambiente flexível de modelagem e otimização para qualquer estrutura avançada de interconexão, incluindo chiplets, chips empilhados, pacotes e placas de circuito impresso (PCBs).
Obtenha uma validação digital mais rápida e por um preço menor com a troca de aparelhos.
Emule todas as partes da infraestrutura do seu centro de dados. Emule tudo. Otimize tudo.
Com memória e armazenamento extras, esses NPBs aprimorados executam o software de segurança e monitoramento de desempenho de IA da Keysight e a pilha de IA.
Realize testes rápidos e precisos em nível de placa com ICT robusto em linha e fora de linha, projetado para a fabricação moderna.
Explore planos de suporte com curadoria, priorizados para mantê-lo inovando com velocidade.
Identifique interferências com software de gerenciamento de espectro pós-processamento em laboratório.
Use esta ferramenta de seleção para identificar rapidamente a melhor fonte de alimentação para suas necessidades de ATE (Equipamentos de Teste Automático) nas áreas aeroespacial e de defesa.
Notas de aplicação, fichas técnicas, projetos de referência e procedimentos de teste confiáveis para agilizar as decisões de projeto e validação.
Bootcamps práticos que ensinam projeto de sistemas, métodos de teste e fluxos de trabalho de produção que os engenheiros podem aplicar imediatamente.
Histórias de sucesso
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Os sistemas de teste paralelo avançados da Keysight oferecem cobertura de teste essencial com um design compacto e econômico, ideal para ambientes de fabricação enxutos. Os sistemas de teste paralelo avançados integram recursos importantes, como varredura de limites, programação flash e recursos de teste sem vetores, em uma plataforma simplificada, criada para testes confiáveis e eficientes de PCBs analógicos, digitais e de sinal misto. Sua arquitetura modular oferece suporte à escalabilidade e personalização, permitindo que você adapte o sistema às suas necessidades de produção. Com ferramentas de software intuitivas e interfaces de automação integradas para otimizar o desenvolvimento de testes e reduzir o tempo de produção. Solicite hoje mesmo um orçamento para uma de nossas configurações populares. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Realize medições analógicas e digitais em um único sistema para reduzir os custos com equipamentos e permitir testes abrangentes de sinais mistos.
Identifique defeitos de soldagem e colocação em placas de circuito impresso densas sem vetores digitais alimentados, simplificando a configuração do teste e acelerando o desenvolvimento.
Teste facilmente interconexões digitais e componentes de passo fino, como BGAs, para melhorar a cobertura de falhas em projetos de PCB densos e garantir uma conectividade confiável.
O tamanho compacto integra-se sem a necessidade de controladores externos, tornando-o ideal para fabricantes com espaço limitado na fábrica.
System width
630 mm até 1200 mm
Maximum node count
512 até 3456
Maximum parallel testing
1 até 4
Fixture actuation
Press down
U9401B
O sistema ICT U9401B Medalist i1000D oferece placas digitais programáveis por pino para suportar varredura de limites, programação serial e testes digitais VCL/PCF.
O Keysight Medalist i1000D está agora ainda melhor. Melhorando em relação ao seu estado anterior de ICT apenas analógico, a nova versão digital do sistema apresenta agora placas digitais programáveis por pino e um conjunto totalmente novo de interfaces gráficas de usuário (GUIs) intuitivas que facilitam a programação e o desenvolvimento.
Com seus novos recursos digitais, o Medalist i1000D agora pode realizar testes digitais baseados em bibliotecas PCF/VCL, Boundary Scan e programação serial I2C/SPI em um dispositivo de teste simples, de baixo custo e com fiação longa. Isso representa uma excelente oportunidade para clientes que buscam uma melhor cobertura de teste sem aumento de custo.
U9405A
O U9405A i1000D SFP é o menor ICT automatizado em linha do mundo com os mais poderosos recursos de teste digital. É a única plataforma ICT que pode ser alternada entre configuração em linha e fora de linha.
Ao contrário dos manipuladores de placas do tipo ponte tradicionais, que adicionam um equipamento de terceiros aos seus sistemas ICT offline, oferecemos uma experiência de compra completa quando você automatiza seu teste em circuito.
Antecipando a dinâmica de custos na fabricação de PCBA, o ICT em linha automatizado i1000D da Keysight ajuda você a acelerar o aumento da produção, garantindo a qualidade dos seus produtos por meio de alguns recursos exclusivos importantes:
U9405B
Sistema ICT Flexicore i1000 aprimorado com recursos de teste paralelo, aproveitando os recursos de processamento multi-core.
O sistema ICT Keysight Flexicore i1000 aprimorado com capacidade de teste paralelo atende às principais tendências crescentes na fabricação, mantendo todos os recursos anteriores. Com maior profundidade e rack de instrumentos integrado, ele está pronto para combinar ICT e teste funcional, tudo em um único sistema automatizado.
O ICT em linha Flexicore i1000 da Keysight ajuda você a acelerar o aumento da produção, garantindo a qualidade dos seus produtos por meio de alguns recursos exclusivos importantes:
Com um design mecânico robusto, ajuste automatizado e programável da largura da esteira transportadora, prensa pneumática de dois estágios com precisão de 1 mm e um ambiente de controle otimizado para testes paralelos, o Keysight Flexicore é a resposta para uma solução completa para suas linhas de produção em constante evolução e com alto rendimento.
Inove rapidamente com planos de suporte personalizados e tempos de resposta e resolução priorizados.
Obtenha assinaturas previsíveis baseadas em locação e soluções completas de gerenciamento do ciclo de vida para atingir suas metas de negócios mais rapidamente.
Experimente um serviço diferenciado como assinante do KeysightCare para obter respostas técnicas comprometidas e muito mais.
Garanta que seu sistema de teste funcione de acordo com as especificações e atenda às normas locais e globais.
Faça medições rapidamente com treinamento interno ministrado por instrutor e eLearning.
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Um sistema de teste paralelo permite que vários dispositivos ou conjuntos de placas sejam testados simultaneamente, em vez de sequencialmente. Isso aumenta a produtividade, utilizando recursos de teste compartilhados, reduzindo o tempo ocioso e otimizando a utilização do testador. Essa abordagem minimiza gargalos e melhora a eficiência sem exigir estações de teste adicionais na fabricação de alto volume. O teste paralelo também oferece suporte a configurações escalonáveis, permitindo que os fabricantes ajustem a capacidade com base na demanda.
Com a capacidade de isolar e executar planos de teste independentes por local, esses sistemas oferecem flexibilidade no manuseio de diferentes produtos ou requisitos de teste na mesma plataforma. Os engenheiros podem realizar testes funcionais, em circuito ou paramétricos simultâneos, acelerando os ciclos de produção e mantendo a cobertura e a precisão dos testes.
A arquitetura de teste paralelo é especialmente valiosa ao testar painéis com várias placas ou conjuntos com arquiteturas semelhantes. É ideal para produtos eletrônicos de consumo, ECUs automotivas e produtos de comunicação, onde testes rápidos, repetíveis e confiáveis são essenciais.
Manter a integridade dos testes em um ambiente paralelo é essencial para garantir resultados precisos e confiáveis. Para isso, um sistema de teste bem projetado emprega isolamento elétrico e canais de medição independentes para cada unidade em teste (UUT). Cada local opera de forma autônoma com recursos dedicados de comutação de sinal, fonte de alimentação e medição para evitar interferências ou interferências. O gerenciamento em nível de software garante o sequenciamento, a sincronização e o registro de dados adequados do teste, sem sobreposição ou erros. Os diagnósticos integrados e o monitoramento em tempo real avaliam continuamente a integridade de cada canal, identificando anomalias que podem afetar os resultados.
Além disso, a calibração específica do local garante a precisão da medição em todas as UUTs, independentemente de suas condições de carga ou sinal. Os sistemas paralelos também suportam mecanismos à prova de falhas e tratamento de erros que isolam as unidades com falha sem interromper os testes em andamento em outros canais. Essa arquitetura garante que as vantagens de velocidade e eficiência nos testes paralelos não comprometam a qualidade, a repetibilidade ou a rastreabilidade dos resultados dos testes.
Um sistema de teste paralelo suporta várias metodologias de teste, tornando-o adequado para a validação abrangente de conjuntos eletrônicos. Os testes comumente suportados incluem testes em circuito, testes funcionais, medições paramétricas, verificações de continuidade e verificação de sinais analógicos/digitais. O sistema também pode executar testes de varredura de limites e autotestes de inicialização para componentes incorporados. Cada canal pode ser configurado independentemente, permitindo a execução simultânea de sequências de teste distintas para diferentes projetos ou revisões de placas.
Além disso, o sistema pode lidar com sinais digitais de alta velocidade, circuitos de sinal misto e interfaces de comunicação, como USB, CAN ou Ethernet. A comutação avançada de sinais e a integração de instrumentação podem validar o consumo de energia, a frequência do relógio e os parâmetros de temporização. A flexibilidade da plataforma permite a integração com instrumentos externos, como osciloscópios ou analisadores de espectro, para ampliar a capacidade de teste.
Este sistema é ideal para indústrias que exigem testes rigorosos e repetíveis, incluindo aplicações automotivas, de telecomunicações, eletrônicos de consumo e controle industrial.
A implementação de uma estratégia de teste paralelo introduz algumas complexidades que devem ser gerenciadas com cuidado. Um dos principais desafios é garantir o isolamento do sinal e evitar interferências entre vários locais de teste ativos. Isso requer um projeto cuidadoso de hardware, blindagem e práticas de aterramento. Outra preocupação é gerenciar o aumento do fluxo de dados de vários pontos de teste, o que pode sobrecarregar os sistemas tradicionais de processamento de dados se não for arquitetado adequadamente.
Para resolver isso, geralmente são utilizados softwares eficientes de sequenciamento de testes e recursos de computação de alto desempenho. O desenvolvimento de testes se torna mais complexo, pois os engenheiros precisam criar scripts e lógica que suportem execução simultânea, ramificação condicional e planos de teste específicos para cada local. O projeto do dispositivo de fixação também é fundamental; tolerâncias inadequadas podem levar a falhas de contato ou resultados falsos. A depuração de falhas em um ambiente com vários locais pode ser mais difícil, pois os problemas podem estar isolados em canais específicos. Validação completa, diagnósticos robustos e ferramentas de monitoramento em tempo real são essenciais para implantar e manter com sucesso uma operação de teste paralelo confiável.