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Solution simplifiée de test en circuit pour les tests de production
Les systèmes de test parallèle Advanced de Keysight offrent une couverture de test Essential avec une conception compacte et économique, idéale pour les environnements de fabrication allégée. Ces systèmes de test parallèle Advanced intègrent des fonctionnalités clés telles que le balayage de frontière (boundary scan), la programmation flash et les capacités de test sans vecteur dans une plateforme simplifiée, conçue pour un test fiable et efficace des cartes de circuits imprimés (PCB) analogiques, numériques et à signaux mixtes. Leur architecture modulaire prend en charge l'évolutivité et la personnalisation, vous permettant d'adapter le système à vos exigences de production. Grâce à des outils logiciels intuitifs et des interfaces d'automatisation transparentes, le développement des tests est rationalisé et le temps de mise en production est réduit. Demandez un devis pour l'une de nos configurations populaires dès aujourd'hui. Besoin d'aide pour choisir ? Consultez les ressources ci-dessous.
Test numérique et analogique intégré
Effectuez des mesures analogiques et numériques dans un seul système afin de réduire les coûts liés à l'équipement et de permettre des tests mixtes complets.
Capacité de test sans vecteur
Identifiez les défauts de soudure et de placement sur les circuits imprimés denses sans vecteurs numériques alimentés, ce qui simplifie la configuration des tests et accélère le développement.
Intégration du balayage des limites
Testez facilement les interconnexions numériques et les composants à pas fin tels que les BGA afin d'améliorer la couverture des défauts dans les conceptions de circuits imprimés denses et de garantir une connectivité fiable.
Conception compacte et autonome
Son encombrement réduit lui permet de s'intégrer sans nécessiter de contrôleurs externes, ce qui le rend idéal pour les fabricants disposant d'un espace limité dans leurs ateliers.
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System width
630 mm to 1200 mm
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Maximum node count
512 to 3456
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Maximum parallel testing
1 to 4
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Fixture actuation
Press down
Configurations les plus populaires
Médaillé i1000D
Systèmes en ligne et hors ligne i1000D à faible encombrement
Système ICT parallèle en ligne automatisé Flexicore i1000
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Services et assistance
Innovez rapidement grâce à des plans d'assistance personnalisés et à des délais de réponse et d'exécution prioritaires.
Bénéficiez d'abonnements prévisibles basés sur un contrat de location et de solutions de gestion du cycle de vie complet afin d'atteindre plus rapidement vos objectifs commerciaux.
Bénéficiez d'un service haut de gamme en tant qu'abonné KeysightCare pour obtenir une assistance technique dédiée et bien plus encore.
Assurez-vous que votre système de test fonctionne conformément aux spécifications et respecte les normes locales et internationales.
Effectuez rapidement des mesures grâce à des formations internes dispensées par des instructeurs et à l'apprentissage en ligne.
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Questions fréquemment posées
Un système de test parallèle permet de tester plusieurs appareils ou assemblages de cartes simultanément plutôt que séquentiellement. Cela augmente le débit en utilisant des ressources de test partagées, en réduisant les temps d'inactivité et en optimisant l'utilisation des testeurs. Cette approche minimise les goulots d'étranglement et améliore l'efficacité sans nécessiter de stations de test supplémentaires dans la fabrication à grand volume. Les tests parallèles prennent également en charge des configurations évolutives, permettant aux fabricants d'ajuster leur capacité en fonction de la demande.
Grâce à leur capacité à isoler et à exécuter des plans de test indépendants par site, ces systèmes offrent une grande flexibilité pour traiter différents produits ou exigences de test sur la même plateforme. Les ingénieurs peuvent effectuer simultanément des tests fonctionnels, en circuit ou paramétriques, ce qui accélère les cycles de production tout en maintenant la couverture et la précision des tests.
L'architecture de test parallèle est particulièrement utile pour tester des panneaux à plusieurs cartes ou des assemblages présentant des architectures similaires. Elle est idéale pour les produits électroniques grand public, les calculateurs automobiles et les produits de communication, où il est essentiel de pouvoir effectuer des tests rapides, reproductibles et fiables.
Le maintien de l'intégrité des tests dans un environnement parallèle est essentiel pour garantir des résultats précis et fiables. Pour ce faire, un système de test bien conçu utilise une isolation électrique et des canaux de mesure indépendants pour chaque unité testée (UUT). Chaque site fonctionne de manière autonome avec des ressources dédiées de commutation de signaux, d'alimentation électrique et de mesure afin d'éviter toute diaphonie ou interférence. La gestion au niveau logiciel garantit un séquençage, une synchronisation et un enregistrement des données corrects, sans chevauchement ni erreur. Des diagnostics intégrés et une surveillance en temps réel évaluent en permanence l'état de chaque canal, identifiant les anomalies susceptibles d'affecter les résultats.
De plus, l'étalonnage spécifique au site garantit la précision des mesures sur tous les UUT, quelles que soient leurs conditions de charge ou de signal. Les systèmes parallèles prennent également en charge des mécanismes de sécurité et de gestion des erreurs qui isolent les unités défaillantes sans perturber les tests en cours sur les autres canaux. Cette architecture garantit que les avantages de la vitesse et de l'efficacité des tests parallèles ne compromettent pas la qualité, la répétabilité ou la traçabilité des résultats des tests.
Un système de test parallèle prend en charge diverses méthodologies de test, ce qui le rend adapté à la validation complète des assemblages électroniques. Les tests couramment pris en charge comprennent les tests en circuit, les tests fonctionnels, les mesures paramétriques, les contrôles de continuité et la vérification des signaux analogiques/numériques. Le système peut également exécuter des tests de balayage des limites et des autotests à la mise sous tension pour les composants intégrés. Chaque canal peut être configuré indépendamment, ce qui permet l'exécution simultanée de séquences de test distinctes pour différentes conceptions ou révisions de cartes.
De plus, le système est capable de traiter des signaux numériques à haut débit, des circuits à signaux mixtes et des interfaces de communication telles que USB, CAN ou Ethernet. Advanced de commutation Advanced et d'intégration d'instruments permettent de valider la consommation électrique, la fréquence d'horloge et les paramètres de synchronisation. La flexibilité de la plateforme permet l'intégration d'instruments externes, tels que des oscilloscopes ou des analyseurs de spectre, afin d'étendre les capacités de test.
Ce système est idéal pour les industries qui nécessitent des tests rigoureux et reproductibles, notamment l'automobile, les télécommunications, l'électronique grand public et les applications de contrôle industriel.
La mise en œuvre d'une stratégie de test parallèle introduit certaines complexités qui doivent être gérées avec soin. L'un des principaux défis consiste à garantir l'isolation des signaux et à éviter les interférences entre plusieurs sites de test actifs. Cela nécessite une conception matérielle minutieuse, un blindage et des pratiques de mise à la terre. Une autre préoccupation concerne la gestion du flux de données accru provenant de plusieurs points de test, qui peut submerger les systèmes de traitement de données traditionnels s'ils ne sont pas correctement conçus.
Pour remédier à cela, on utilise souvent des logiciels de séquençage de tests efficaces et des ressources informatiques hautement performantes. Le développement des tests devient plus complexe, car les ingénieurs doivent créer des scripts et une logique qui prennent en charge l'exécution simultanée, les branchements conditionnels et les plans de test spécifiques à chaque site. La conception des fixations est également essentielle ; des tolérances insuffisantes peuvent entraîner des défaillances de contact ou des résultats erronés. Le débogage des défaillances dans un environnement multi-sites peut s'avérer plus difficile, car les problèmes peuvent être isolés à des canaux spécifiques. Une validation approfondie, des diagnostics robustes et des outils de surveillance en temps réel sont essentiels pour déployer et maintenir avec succès un fonctionnement fiable des tests parallèles.