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Optimierte In-Circuit-Testlösung für Produktionstests
Keysight Advanced Parallel Test Systems bieten wesentliche Testabdeckung mit einem kompakten, kostengünstigen Design, das sich ideal für schlanke Fertigungsumgebungen eignet. Die Advanced Parallel Test Systems integrieren Schlüsselwächter wie Boundary-Scan, Flash-Programmierung und vektorlose Testfunktionen in eine vereinfachte Plattform, die für zuverlässige und effiziente Tests von analogen, digitalen und Mixed-Signal-Leiterplatten entwickelt wurde. Ihre modulare Architektur unterstützt Skalierbarkeit und Anpassung, sodass Sie das System auf Ihre Produktionsanforderungen abstimmen können. Mit intuitiven Softwarewerkzeugen und nahtlosen Automatisierungsschnittstellen wird die Testentwicklung optimiert und die Zeit bis zur Produktion verkürzt. Fordern Sie noch heute ein Angebot für eine unserer beliebten Konfigurationen an. Benötigen Sie Hilfe bei der Auswahl? Sehen Sie sich die unten stehenden Ressourcen an.
Eingebauter digitaler und analoger Test
Führen Sie analoge und digitale Messungen in einem System durch, um den Geräteaufwand zu reduzieren und umfassende Mixed-Signal-Tests zu ermöglichen.
Vektorlose Testfähigkeit
Erkennen von Löt- und Platzierungsfehlern auf dicht bestückten Leiterplatten ohne versorgte digitale Vektoren, wodurch der Testaufbau vereinfacht und die Entwicklung beschleunigt wird.
Integration von Randabtastungen
Digitale Verbindungen und Bauteile mit feiner Rasterteilung wie BGAs lassen sich einfach testen, um die Fehlerabdeckung in dichten Leiterplattendesigns zu verbessern und eine zuverlässige Konnektivität zu gewährleisten.
Kompaktes, eigenständiges Design
Dank seiner platzsparenden Bauweise lässt es sich ohne externe Steuerungen integrieren und ist somit ideal für Hersteller mit begrenzter Produktionsfläche.
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System width
630 mm bis 1200 mm
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Maximum node count
512 bis 3456
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Maximum parallel testing
1 bis 4
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Fixture actuation
Press down
Beliebteste Konfigurationen
Flexicore i1000 Automatisiertes Inline-Parallel-IKT-System
- In-Circuit-Tests für komplexe Hochgeschwindigkeitselektronik
- So führen Sie die Prüfung des Kfz-Sicherungskastens durch
- Wie man den Board Handler mit In-Circuit-Testern integriert
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
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Häufig gestellte Fragen
Ein paralleles Testsystem ermöglicht es, mehrere Prüflinge oder Baugruppen gleichzeitig anstatt nacheinander zu testen. Dies erhöht den Durchsatz durch die Nutzung gemeinsam genutzter Testressourcen, reduziert Leerlaufzeiten und optimiert die Auslastung des Testers. Dieser Ansatz minimiert Engpässe und verbessert die Effizienz in der Großserienfertigung, ohne dass zusätzliche Teststationen erforderlich sind. Parallele Tests unterstützen zudem skalierbare Konfigurationen, sodass Hersteller ihre Kapazitäten flexibel an den Bedarf anpassen können.
Durch die Möglichkeit, unabhängige Testpläne pro Standort zu erstellen und auszuführen, bieten solche Systeme Flexibilität bei der Handhabung unterschiedlicher Produkte oder Testanforderungen auf derselben Plattform. Ingenieure können gleichzeitig funktionale, In-Circuit- oder parametrische Tests durchführen und so die Produktionszyklen beschleunigen, ohne die Testabdeckung und -genauigkeit zu beeinträchtigen.
Parallele Testarchitekturen sind besonders wertvoll beim Testen von Mehrplatinen-Panels oder Baugruppen mit ähnlicher Architektur. Sie eignen sich ideal für Unterhaltungselektronik, Kfz-Steuergeräte und Kommunikationsprodukte, bei denen schnelle, wiederholbare und zuverlässige Tests unerlässlich sind.
Die Aufrechterhaltung der Testintegrität in einer Parallelumgebung ist unerlässlich für präzise und zuverlässige Ergebnisse. Ein gut konzipiertes Testsystem nutzt hierfür elektrische Trennung und unabhängige Messkanäle für jedes Prüfobjekt (UUT). Jeder Standort arbeitet autonom mit dedizierter Signalumschaltung, Stromversorgung und Messressourcen, um Übersprechen und Interferenzen zu vermeiden. Die Softwareverwaltung gewährleistet die korrekte Testreihenfolge, Synchronisierung und Datenprotokollierung ohne Überlappungen oder Fehler. Integrierte Diagnosefunktionen und Echtzeitüberwachung analysieren kontinuierlich den Zustand jedes Kanals und erkennen Anomalien, die die Ergebnisse beeinflussen könnten.
Darüber hinaus gewährleistet die standortspezifische Kalibrierung die Messgenauigkeit für alle Prüflinge, unabhängig von deren Last- oder Signalbedingungen. Parallelsysteme unterstützen zudem Ausfallsicherheitsmechanismen und Fehlerbehandlung, die fehlerhafte Einheiten isolieren, ohne laufende Tests auf anderen Kanälen zu unterbrechen. Diese Architektur stellt sicher, dass die Vorteile der Geschwindigkeit und Effizienz paralleler Tests die Qualität, Wiederholbarkeit oder Rückverfolgbarkeit der Testergebnisse nicht beeinträchtigen.
Ein paralleles Testsystem unterstützt verschiedene Testmethoden und eignet sich somit für die umfassende Validierung elektronischer Baugruppen. Zu den gängigen unterstützten Tests gehören In-Circuit-Tests, Funktionstests, parametrische Messungen, Durchgangsprüfungen sowie die Verifikation analoger und digitaler Signale. Darüber hinaus kann das System Boundary-Scan-Tests und Power-on-Selbsttests für integrierte Komponenten ausführen. Jeder Kanal lässt sich unabhängig konfigurieren, sodass unterschiedliche Testsequenzen für verschiedene Platinenlayout-Revisionen gleichzeitig ausgeführt werden können.
Darüber hinaus kann das System Hochgeschwindigkeits-Digitalsignale, Mixed-Signal-Schaltungen und Kommunikationsschnittstellen wie USB, CAN oder Ethernet verarbeiten. Advanced Durch Signalumschaltung und Instrumentenintegration lassen sich Stromverbrauch, Taktfrequenz und Timing-Parameter überprüfen. Die Flexibilität der Plattform ermöglicht die Integration externer Instrumente wie Oszilloskope oder Spektrumanalysatoren , für erweiterte Testmöglichkeiten.
Dieses System eignet sich ideal für Branchen, die strenge und wiederholbare Tests erfordern, darunter die Automobilindustrie, die Telekommunikation, die Unterhaltungselektronik und industrielle Steuerungsanwendungen.
Die Implementierung einer parallelen Teststrategie bringt einige Komplexitäten mit sich, die sorgfältig bewältigt werden müssen. Eine der größten Herausforderungen besteht darin, die Signalisolation zu gewährleisten und Interferenzen zwischen mehreren aktiven Testpunkten zu vermeiden. Dies erfordert eine sorgfältige Hardwareentwicklung sowie geeignete Abschirmungs- und Erdungsmaßnahmen. Ein weiteres Problem ist die Bewältigung des erhöhten Datenflusses von mehreren Testpunkten, der herkömmliche Datenverarbeitungssysteme überlasten kann, wenn er nicht entsprechend ausgelegt ist.
Um dem entgegenzuwirken, werden häufig effiziente Testsequenzierungssoftware und Hochleistungsrechner eingesetzt. Die Testentwicklung wird komplexer, da Ingenieure Skripte und Logik erstellen müssen, die parallele Ausführung, bedingte Verzweigungen und standortspezifische Testpläne unterstützen. Auch die Konstruktion der Testvorrichtungen ist entscheidend; zu geringe Toleranzen können zu Kontaktfehlern oder falschen Ergebnissen führen. Die Fehlersuche in einer Umgebung mit mehreren Standorten kann schwieriger sein, da Probleme auf bestimmte Kanäle beschränkt sein können. Gründliche Validierung, robuste Diagnosetools und Echtzeit-Überwachungswerkzeuge sind unerlässlich für die erfolgreiche Implementierung und den Betrieb eines zuverlässigen parallelen Testbetriebs.