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Optimierte In-Circuit-Testlösung für Produktionstests
Keysight Advanced Parallel Test Systems bieten eine essentielle Testabdeckung mit einem kompakten, kostengünstigen Design, ideal für Lean-Manufacturing-Umgebungen. Die Advanced Parallel Test Systems integrieren Schlüsselfunktionen wie Boundary Scan, Flash-Programmierung und vektorlose Testfunktionen in eine vereinfachte Plattform, die für zuverlässiges und effizientes Testen von analogen, digitalen und Mixed-Signal-PCBs entwickelt wurde. Ihre modulare Architektur unterstützt Skalierbarkeit und Anpassung, sodass Sie das System an Ihre Produktionsanforderungen anpassen können. Mit intuitiven Softwaretools und nahtlosen Automatisierungsschnittstellen zur Optimierung der Testentwicklung und Verkürzung der Produktionszeit. Fordern Sie noch heute ein Angebot für eine unserer beliebten Konfigurationen an. Benötigen Sie Hilfe bei der Auswahl? Sehen Sie sich die untenstehenden Ressourcen an.
Eingebauter digitaler und analoger Test
Führen Sie analoge und digitale Messungen in einem System durch, um den Geräteaufwand zu reduzieren und umfassende Mixed-Signal-Tests zu ermöglichen.
Vektorlose Testfähigkeit
Erkennen von Löt- und Platzierungsfehlern auf dicht bestückten Leiterplatten ohne versorgte digitale Vektoren, wodurch der Testaufbau vereinfacht und die Entwicklung beschleunigt wird.
Integration von Randabtastungen
Digitale Verbindungen und Bauteile mit feiner Rasterteilung wie BGAs lassen sich einfach testen, um die Fehlerabdeckung in dichten Leiterplattendesigns zu verbessern und eine zuverlässige Konnektivität zu gewährleisten.
Kompaktes, eigenständiges Design
Dank seiner platzsparenden Bauweise lässt es sich ohne externe Steuerungen integrieren und ist somit ideal für Hersteller mit begrenzter Produktionsfläche.
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System width
630 mm bis 1200 mm
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Maximum node count
512 bis 3456
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Maximum parallel testing
1 bis 4
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Fixture actuation
Press down
Beliebteste Konfigurationen
Medalist i1000D
Medalist i1000D Kompakte Inline- und Offline-In-Circuit-Systeme
Flexicore i1000 Automatisiertes Inline-Parallel-IKT-System
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
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Häufig gestellte Fragen
Ein paralleles Testsystem ermöglicht das gleichzeitige statt sequenzielle Testen mehrerer Bauteile oder Leiterplatten. Dies erhöht den Durchsatz durch die Nutzung gemeinsamer Testressourcen, reduziert Leerlaufzeiten und optimiert die Auslastung der Tester. Dieser Ansatz minimiert Engpässe und verbessert die Effizienz, ohne dass in der Serienfertigung zusätzliche Teststationen erforderlich sind. Paralleles Testen unterstützt zudem skalierbare Konfigurationen, sodass Hersteller die Kapazität bedarfsgerecht anpassen können.
Durch die Möglichkeit, unabhängige Testpläne pro Standort zu erstellen und auszuführen, bieten solche Systeme Flexibilität bei der Handhabung unterschiedlicher Produkte oder Testanforderungen auf derselben Plattform. Ingenieure können gleichzeitig funktionale, In-Circuit- oder parametrische Tests durchführen und so die Produktionszyklen beschleunigen, ohne die Testabdeckung und -genauigkeit zu beeinträchtigen.
Parallele Testarchitekturen sind besonders wertvoll beim Testen von Mehrplatinen-Panels oder Baugruppen mit ähnlicher Architektur. Sie eignen sich ideal für Unterhaltungselektronik, Kfz-Steuergeräte und Kommunikationsprodukte, bei denen schnelle, wiederholbare und zuverlässige Tests unerlässlich sind.
Die Aufrechterhaltung der Testintegrität in einer Parallelumgebung ist unerlässlich für präzise und zuverlässige Ergebnisse. Ein gut konzipiertes Testsystem nutzt hierfür elektrische Trennung und unabhängige Messkanäle für jedes Prüfobjekt (UUT). Jeder Standort arbeitet autonom mit dedizierter Signalumschaltung, Stromversorgung und Messressourcen, um Übersprechen und Interferenzen zu vermeiden. Die Softwareverwaltung gewährleistet die korrekte Testreihenfolge, Synchronisierung und Datenprotokollierung ohne Überlappungen oder Fehler. Integrierte Diagnosefunktionen und Echtzeitüberwachung analysieren kontinuierlich den Zustand jedes Kanals und erkennen Anomalien, die die Ergebnisse beeinflussen könnten.
Darüber hinaus gewährleistet die standortspezifische Kalibrierung die Messgenauigkeit für alle Prüflinge, unabhängig von deren Last- oder Signalbedingungen. Parallelsysteme unterstützen zudem Ausfallsicherheitsmechanismen und Fehlerbehandlung, die fehlerhafte Einheiten isolieren, ohne laufende Tests auf anderen Kanälen zu unterbrechen. Diese Architektur stellt sicher, dass die Vorteile der Geschwindigkeit und Effizienz paralleler Tests die Qualität, Wiederholbarkeit oder Rückverfolgbarkeit der Testergebnisse nicht beeinträchtigen.
Ein paralleles Testsystem unterstützt verschiedene Testmethoden und eignet sich daher für die umfassende Validierung elektronischer Baugruppen. Zu den üblicherweise unterstützten Tests gehören In-Circuit-Tests, Funktionstests, parametrische Messungen, Durchgangsprüfungen und die Verifizierung analoger/digitaler Signale. Das System kann außerdem Boundary-Scan-Tests und Power-On-Selbsttests für eingebettete Komponenten durchführen. Jeder Kanal lässt sich unabhängig konfigurieren, sodass unterschiedliche Testsequenzen für verschiedene Platinenlayouts oder Revisionen gleichzeitig ausgeführt werden können.
Darüber hinaus kann das System Hochgeschwindigkeits-Digitalsignale, Mixed-Signal-Schaltungen und Kommunikationsschnittstellen wie USB, CAN oder Ethernet verarbeiten. Advanced Durch Signalumschaltung und Instrumentenintegration lassen sich Stromverbrauch, Taktfrequenz und Timing-Parameter überprüfen. Die Flexibilität der Plattform ermöglicht die Integration externer Instrumente wie Oszilloskope oder Spektrumanalysatoren , für erweiterte Testmöglichkeiten.
Dieses System eignet sich ideal für Branchen, die strenge und wiederholbare Tests erfordern, darunter die Automobilindustrie, die Telekommunikation, die Unterhaltungselektronik und industrielle Steuerungsanwendungen.
Die Implementierung einer parallelen Teststrategie bringt einige Komplexitäten mit sich, die sorgfältig bewältigt werden müssen. Eine der größten Herausforderungen besteht darin, die Signalisolation zu gewährleisten und Interferenzen zwischen mehreren aktiven Testpunkten zu vermeiden. Dies erfordert eine sorgfältige Hardwareentwicklung sowie geeignete Abschirmungs- und Erdungsmaßnahmen. Ein weiteres Problem ist die Bewältigung des erhöhten Datenflusses von mehreren Testpunkten, der herkömmliche Datenverarbeitungssysteme überlasten kann, wenn er nicht entsprechend ausgelegt ist.
Um dem entgegenzuwirken, werden häufig effiziente Testsequenzierungssoftware und Hochleistungsrechner eingesetzt. Die Testentwicklung wird komplexer, da Ingenieure Skripte und Logik erstellen müssen, die parallele Ausführung, bedingte Verzweigungen und standortspezifische Testpläne unterstützen. Auch die Konstruktion der Testvorrichtungen ist entscheidend; zu geringe Toleranzen können zu Kontaktfehlern oder falschen Ergebnissen führen. Die Fehlersuche in einer Umgebung mit mehreren Standorten kann schwieriger sein, da Probleme auf bestimmte Kanäle beschränkt sein können. Gründliche Validierung, robuste Diagnosetools und Echtzeit-Überwachungswerkzeuge sind unerlässlich für die erfolgreiche Implementierung und den Betrieb eines zuverlässigen parallelen Testbetriebs.