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I sistemi di test Advanced Keysight garantiscono una copertura di test essenziale grazie a un design compatto ed economico, ideale per gli ambienti di produzione snella. Questi sistemi integrano funzionalità chiave quali boundary scan, programmazione flash e test senza vettori in una piattaforma semplificata, progettata per eseguire test affidabili ed efficienti su circuiti stampati analogici, digitali e a segnale misto. La loro architettura modulare supporta la scalabilità e la personalizzazione, consentendo di adattare il sistema alle vostre esigenze di produzione. Grazie a strumenti software intuitivi e interfacce di automazione senza soluzione di continuità, è possibile semplificare lo sviluppo dei test e ridurre i tempi di produzione. Richiedete oggi stesso un preventivo per una delle nostre configurazioni più richieste. Avete bisogno di aiuto nella scelta? Consultate le risorse riportate di seguito.
Esegui misurazioni analogiche e digitali in un unico sistema per ridurre i costi delle apparecchiature e consentire test completi sui segnali misti.
Identifica i difetti di saldatura e posizionamento su PCB densi senza vettori digitali alimentati, semplificando la configurazione dei test e velocizzando lo sviluppo.
Testare facilmente interconnessioni digitali e componenti a passo fine come i BGA per migliorare la copertura dei guasti nei progetti PCB ad alta densità e garantire una connettività affidabile.
L'ingombro ridotto si integra senza bisogno di controller esterni, rendendolo ideale per i produttori con spazi limitati in fabbrica.
System width
630 mm to 1200 mm
Maximum node count
512 to 3456
Maximum parallel testing
1 to 4
Fixture actuation
Press down
U9401B
Il sistema ICT U9401B Medalist i1000D offre schede digitali programmabili per pin per supportare boundary scan, programmazione seriale e test digitali VCL/PCF.
Semplificate la programmazione e lo sviluppo grazie alle schede digitali programmabili per pin e al software intuitivo. Grazie alle sue funzionalità digitali, Medalist i1000D esegue test basati su librerie PCF/VCL digitali, Boundary Scan e programmazione seriale I2C/SPI su un semplice dispositivo di test a cablaggio lungo e a basso costo. Ottenete una migliore copertura dei test senza aumentare i costi.
U9405A
U9405A i1000D SFP è il più piccolo ICT automatizzato in linea al mondo con le più potenti capacità di test digitali. È l'unica piattaforma ICT che può essere commutata tra configurazione in linea e offline.
Anticipando le dinamiche dei costi nella produzione di PCBA, l'ICT in linea automatizzato i1000D di Keysight consente di accelerare l'aumento della produzione, garantendo al contempo la qualità dei prodotti. A differenza dei tradizionali manipolatori di schede a ponte che aggiungono apparecchiature di terze parti ai sistemi ICT offline, forniamo una soluzione completa per l'automazione dei test in-circuit.
U9405B
Sistema ICT Flexicore i1000 potenziato con funzionalità di test parallelo, che sfrutta le capacità di elaborazione multi-core.
Il sistema ICT Keysight Flexicore i1000 potenziato con funzionalità di test parallelo risponde alle principali tendenze in crescita nel settore manifatturiero, pur mantenendo tutte le caratteristiche precedenti. Grazie alla maggiore profondità e al rack per strumenti integrato, è pronto per combinare sia il test ICT che quello funzionale, il tutto in un unico sistema automatizzato.
Il sistema ICT in linea Flexicore i1000 di Keysight consente di accelerare l'aumento della produzione, garantendo al contempo la qualità dei prodotti grazie ad alcune caratteristiche chiave esclusive:
Con un design meccanico robusto, dotato di regolazione automatica programmabile della larghezza del trasportatore, pressa pneumatica a doppio stadio con una precisione di 1 mm e un ambiente di controllo ottimizzato per i test paralleli, Keysight Flexicore è la risposta ideale per una soluzione completa per le vostre linee di produzione in continua evoluzione e ad alta produttività.
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Un sistema di test parallelo consente di testare più dispositivi o assemblaggi di schede contemporaneamente anziché in sequenza. Ciò aumenta la produttività utilizzando risorse di test condivise, riducendo i tempi di inattività e ottimizzando l'utilizzo dei tester. Questo approccio riduce al minimo i colli di bottiglia e migliora l'efficienza senza richiedere stazioni di test aggiuntive nella produzione ad alto volume. Il test parallelo supporta anche configurazioni scalabili, consentendo ai produttori di adeguare la capacità in base alla domanda.
Grazie alla capacità di isolare ed eseguire piani di test indipendenti per ciascun sito, tali sistemi offrono flessibilità nella gestione di prodotti o requisiti di test diversi sulla stessa piattaforma. Gli ingegneri possono eseguire test funzionali, in-circuit o parametrici simultanei, accelerando i cicli di produzione e mantenendo al contempo la copertura e l'accuratezza dei test.
L'architettura di test parallela è particolarmente utile quando si testano pannelli multi-scheda o assemblaggi con architetture simili. È ideale per l'elettronica di consumo, le centraline elettroniche automobilistiche e i prodotti di comunicazione, dove è fondamentale eseguire test rapidi, ripetibili e affidabili.
Mantenere l'integrità dei test in un ambiente parallelo è essenziale per garantire risultati accurati e affidabili. A tal fine, un sistema di test ben progettato impiega l'isolamento elettrico e canali di misurazione indipendenti per ciascuna unità sottoposta a test (UUT). Ogni sito opera in modo autonomo con risorse dedicate per la commutazione dei segnali, l'alimentazione e la misurazione, al fine di prevenire diafonia o interferenze. La gestione a livello software garantisce una corretta sequenza dei test, la sincronizzazione e la registrazione dei dati senza sovrapposizioni o errori. La diagnostica integrata e il monitoraggio in tempo reale valutano continuamente lo stato di salute di ciascun canale, identificando le anomalie che potrebbero influenzare i risultati.
Inoltre, la calibrazione specifica per sito garantisce la precisione delle misurazioni su tutti gli UUT, indipendentemente dal loro carico o dalle condizioni del segnale. I sistemi paralleli supportano anche meccanismi di sicurezza e gestione degli errori che isolano le unità difettose senza interrompere i test in corso su altri canali. Questa architettura garantisce che i vantaggi in termini di velocità ed efficienza dei test paralleli non compromettano la qualità, la ripetibilità o la tracciabilità dei risultati dei test.
Un sistema di test parallelo supporta varie metodologie di test, rendendolo adatto alla validazione completa di assemblaggi elettronici. I test comunemente supportati includono test in-circuit, test funzionali, misurazioni parametriche, controlli di continuità e verifica dei segnali analogici/digitali. Il sistema può anche eseguire test boundary scan e autotest all'accensione per i componenti integrati. Ogni canale può essere configurato in modo indipendente, consentendo l'esecuzione simultanea di sequenze di test distinte per diversi progetti o revisioni di schede.
Inoltre, il sistema è in grado di gestire segnali digitali ad alta velocità, circuiti a segnale misto e interfacce di comunicazione quali USB, CAN o Ethernet. Advanced di commutazione Advanced e integrazione degli strumenti consentono di verificare il consumo energetico, la frequenza di clock e i parametri di temporizzazione. La flessibilità della piattaforma permette l'integrazione con strumenti esterni, quali oscilloscopi o analizzatori di spettro, per ampliare le capacità di test.
Questo sistema è ideale per i settori che richiedono test rigorosi e ripetibili, tra cui quello automobilistico, delle telecomunicazioni, dell'elettronica di consumo e delle applicazioni di controllo industriale.
L'implementazione di una strategia di test parallela introduce alcune complessità che devono essere gestite con attenzione. Una delle sfide principali è garantire l'isolamento del segnale ed evitare interferenze tra più siti di test attivi. Ciò richiede un'attenta progettazione dell'hardware, schermature e pratiche di messa a terra. Un'altra preoccupazione è la gestione dell'aumento del flusso di dati provenienti da più punti di test, che può sovraccaricare i sistemi di elaborazione dati tradizionali se non progettati correttamente.
Per risolvere questo problema, spesso vengono utilizzati software efficienti per la sequenzializzazione dei test e risorse di calcolo ad alte prestazioni. Lo sviluppo dei test diventa più complesso, poiché gli ingegneri devono creare script e logiche che supportino l'esecuzione simultanea, il branching condizionale e piani di test specifici per ogni sito. Anche la progettazione dei dispositivi di fissaggio è fondamentale: tolleranze inadeguate possono causare errori di contatto o risultati falsati. Il debug degli errori in un ambiente multi-sito può essere più difficile, poiché i problemi possono essere isolati su canali specifici. Una convalida approfondita, una diagnostica robusta e strumenti di monitoraggio in tempo reale sono essenziali per implementare e mantenere con successo un'operazione di test parallelo affidabile.