先進設計系統（ADS）統計設計套件（Statistical Design Package）可提供設計人員最佳化、靈敏度分析、良率、良率最佳化（或稱為設計中心）、實驗設計（DOE）和良率靈敏度直方圖。藉由結合使用這些工具，設計人員可獲得更深入的設計洞察力，如此有助於排除製造過程的意外變異，進而將產品良率最大化。

可利用強大的資料展示指令，繪製許多有用的統計圖與直方圖。

產品特色

  • 自動將靈敏度分析輸出正規化。一項設計中所選用的不同類型元件，其輸出靈敏度可互不干擾地進行正規化。例如在涵蓋 kΩ、微微法拉（picofarad）和微米（micrometer）等等不同範圍的各類元件中，實現元件靈敏度的準確瞬時測定
  • 使用者在執行最佳化後，可利用最終分析參數進行後續分析。這項便利功能，可在完成電路最佳化後，輕鬆地將分析排序
  • 在進入製造階段前，分析製造良率並將其最佳化
  • 讓設計人員能夠對無法避免的元件變異進行補償
  • 讓設計人員能清楚洞察設計穩定性，並找出必須加以控制的 Red-X 元件，以達到更高的生產良率
  • 提供生產後調整，藉由分析並預測生產良率，來設計可調式元件設計
  • 提供強大的資料展示功能，藉由後處理分析及自動更新，設計人員可輕鬆地檢視統計良率圖和靈敏度直方圖
  • 提供增強型最佳化輸出控制器，讓設計人員能藉由掃描或程控設計最佳化步驟程式，輕鬆地建立並最佳化複雜電路
  • 包括靈敏度分析和完整的實驗設計（DOE）套件，提供所有的支援圖表，讓設計人員能獲得完整的設計洞察力
  • 如此一來，設計人員便可針對任何類型的分布，執行不匹配模型和關聯分析，包括在 RFIC 設計中被大量使用的對數常態分布

統計設計套件（Statistical Design Package）可為面臨高效率生產等產品設計挑戰的設計人員，提供可行的解決方案。對小量生產而言，可確保其產品的強韌性與可靠性。在量產應用中，則可幫助提高良率並減少成本支出。

此套件為設計人員提供一個新的設計程序，以利用自動最佳化、良率分析、良率最佳化（又稱設計中心）、靈敏度分析和以下提到的許多其他先進統計工具，達到事半功倍的效果。

Statistical Design Package 已整合到 W2200 ADS Core Environment 中。獲得更多有關 ADS Core 的詳細資訊。