アクセスポイントなしで受動部品をテストする方法

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テストアクセスなしで受動部品をテスト

限られたテストポイントしかない高密度多層プリント回路基板アセンブリ（PCBA）のテストには、クラスタテスト方法が必要です。高速データ伝送のためのインピーダンス制御とシグナルインテグリティを維持しながら、PCBA上のすべてのデバイスとコンポーネントにテストアクセスを提供して電気テストを行うことは、現実的でない場合があります。この制限を克服するために、エンジニアは相互接続されたコンポーネントのクラスターをグループ化してテストすることができ、限られたテスト資源でより高いカバレッジを達成することができます。

クラスタリングプロセスでは、PCBAレイアウトの知識を持つエンジニアが、1つの基板上のコンポーネントをグループ化し、クリティカルノード間のインピーダンスなどの測定値を指定し、これらのアクティブコンポーネントとパッシブコンポーネントの測定値を特定する必要がある。これを怠ると、能動部品から発生するインピーダンスによって測定値がずれるため、測定結果に矛盾が生じる。エンジニアは、自動化されたクラスタ形成とテストプラン生成を必要としている。

E9988GL

自動クラスター生成ソリューション 受動部品用

高密度多層PCBAのテストには自動化が必要ですソリューション 受動部品のクラスタ形成を効率化するKeysight i3070シリーズ7i高密度インサーキットテストシステムは、自動化されたソリューション 信頼性の高い受動デバイスクラスタを作成し、テストプランを生成するためのものです。このテストシステムは、Advanced Cluster Library（ACL）のアルゴリズムを活用し、効率的なクラスタ構成を実現することで、テストの質を向上させます。高精度テスト実行の高速化、生産プロセスの信頼性の向上を実現します。
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