6G Dバンドノイズ指数測定を実行する方法

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ノイズ指数測定を用いた6G Sub-THz設計の検証

初期の6G研究では、プロトタイピングとシステム性能検証のためにDバンド（110to170GHz）を探索する必要がある。被試験デバイス（DUT）の雑音指数は、6Gシステムの性能を測定し特性評価する上で極めて重要なRFパラメータである。エンジニアは、システムのダウンコンバータの局部発振器（LO）がDバンド周波数範囲を掃引している間、ノイズ源のオンとオフに対応するノイズ電力を2回測定するシグナル・アナライザを必要とする。ソフトウェアが自動的に制御し、動作を実行します。

測定システムは、高精度のために雑音指数が低い必要があります。テストエンジニアは、ノイズ源とシステムダウンコンバーターを用いて、自己完結型の自己制御測定を行うシグナルアナライザを必要としています。校正と測定のシンプルな2ステップで雑音指数測定が可能です。校正の完了後、テストエンジニアはDUTのDバンド雑音指数を測定し、雑音指数の結果を得ることができ、DUTの性能を迅速に評価することができます。

6G Dバンド雑音雑音指数 ソリューション

サブTHz 6Gシステムの性能を測定および特性評価するには、ノイズ指数測定を行う必要があります。Dバンド周波数向けのキーサイトのノイズ指数測定ソリューションは、ノイズ指数測定アプリケーションソフトウェアを搭載したキーサイトXシリーズシグナルアナライザ、Virginia Diodes (VDI)のダウンコンバータおよびノイズ源、そしてLOとしてのキーサイトシグナルジェネレータで構成されています。ノイズ源は、事前に校正された過剰ノイズ比の値を持つ広帯域ノイズをDUT入力に供給します。システムダウンコンバータは、DUT出力からの入力Dバンド周波数を固定中間周波数(IF)に変換します。ノイズ指数測定アプリケーションを搭載したシグナルアナライザは、Yファクタ法を使用してDUTのノイズ指数を計算します。
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