ハイライト

ピン単位のプログラマブル・デジタル・カードと直感的なソフトウェアで、プログラミングと開発を容易に行えます。 Medalist i1000Dは、そのデジタル機能により、デジタルPCF/VCLライブラリベースのテスト、バウンダリスキャン、I2C/SPIシリアルプログラミングを、長いケーブルを持つ単純で低コストのテストフィクスチャで実現します。 テストコストを上げずにより良いテストカバレージを得る

デジタルカバレージ

  • i1000Dのデジタルサブシステムは、業界最先端のMedalist i3070 ICTの使いやすさと機能を活用して、テスト速度を調整したり、マウスを数回クリックするだけで電圧をドライブ/受信する性能を提供しています。

完全なバウンダリスキャン機能

  • 一般的なバウンダリスキャン/コネクトテストからインターコネクトテストまで、あらゆるバウンダリスキャン機能を備え、ICTの性能をさらに強力にしています。

強力なデバッグインタフェース

  • デジタル・デバッグ・ユーザー・インタフェースは、i3070の押しボタンデバッグGUIの制御性および柔軟性を継承し、デジタル・テスト・パラメータやテスト・ソース・コードを完全に制御することができます。

低コストのフィクスチャリング

  • Medalist i1000Dは、従来のMDA型のロング・ワイヤード・プレス・ダウン・フィクスチャを使用して、デジタルテストを実行します。 バウンダリ・スキャン・テスト、シリアルプログラミング、ライブラリベーステストのテストを簡単に実行できます。 使い易く、効果的なテストソリューションでMDA型フィクスチャなので、低コストのフィクスチャを使用できます。
Fixture Actuation
Press down
最大ノード・カウント
3456
Max Parallel Testing
1
System Type
Offline System
System Width
1200 mm
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最大ノード・カウント
Max Parallel Testing
System Type
System Width
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3456
1
Offline System
1200 mm
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Fixture Actuation:
Press down
最大ノード・カウント:
3456
Max Parallel Testing:
1
System Type:
Offline System
System Width:
1200 mm
U9401B Medalist i1000D

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