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Medalist i1000D インサーキットテスト(ICT)システム

U9401B Medalist i1000D ICTシステムはピン単位のプログラマブルデジタルカードを提供し、バウンダリスキャン、シリアルプログラミング、VCL/PCFデジタルテストをサポートします。

製品画像

  • Fixture actuation

    Press down

  • 最大ノード・カウント

    3456

  • System width

    1200 mm

  • Maximum parallel testing

    1

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同梱品をご確認いただき、キーサイトが提供する利用可能なアップグレードオプションをご覧ください。

ハイライト

ピン単位のプログラマブル・デジタル・カードと直感的なソフトウェアで、プログラミングと開発を容易に行えます。 Medalist i1000Dは、そのデジタル機能により、デジタルPCF/VCLライブラリベースのテスト、バウンダリスキャン、I2C/SPIシリアルプログラミングを、長いケーブルを持つ単純で低コストのテストフィクスチャで実現します。 テストコストを上げずに、より良いテストカバレージを得る

デジタルカバレージ

  • i1000Dのデジタルサブシステムは、業界最先端のMedalist i3070 ICTの使いやすさと機能を活用して、テスト速度を調整したり、マウスを数回クリックするだけで電圧をドライブ／受信する性能を提供しています。

完全なバウンダリスキャン機能

  • 一般的なバウンダリスキャン／コネクトテストからインターコネクトテストまで、あらゆるバウンダリスキャン機能を備え、ICTの性能をさらに強力にしています。

強力なデバッグインターフェース

  • デジタル・デバッグ・ユーザー・インターフェースは、i3070の押しボタンデバッグGUIの制御性および柔軟性を継承し、デジタル・テスト・パラメータやテスト・ソース・コードを完全に制御することができます。

低コストのフィクスチャリング

  • Medalist i1000Dは、従来のMDA型のロング・ワイヤード・プレス・ダウン・フィクスチャを使用して、デジタルテストを実行します。 バウンダリ・スキャン・テスト、シリアルプログラミング、ライブラリベーステストのテストを簡単に実行できます。 使いやすく、効果的なテストソリューションでMDA型フィクスチャなので、低コストのフィクスチャを使用できます。

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