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Medalhista i1000D

O sistema ICT U9401B Medalist i1000D oferece placas digitais programáveis por pino para suportar varredura de limites, programação serial e testes digitais VCL/PCF.

prod_image

  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum node count

    3456

  • System width

    1200 mm

  • Maximum parallel testing

    1

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Destaques

Cobertura digital

  • O subsistema digital do i1000D aproveita a simplicidade e o poder do Medalist i3070 ICT, líder do setor, para oferecer aos clientes a capacidade de ajustar as velocidades de teste, acionar e receber tensões com apenas alguns cliques do mouse.

Recursos completos de varredura de limites

  • Colocando ainda mais poder de TIC nas mãos de seus usuários, a Keysight equipou o i1000 com recursos completos de varredura de limites, desde o teste padrão de varredura de limites e conexão até o teste de interconexão.

Interface de depuração poderosa

  • A GUI de depuração digital aproveita o controle e a flexibilidade da lendária GUI de depuração i3070 PushButton, permitindo que engenheiros e técnicos tenham controle total dos parâmetros de teste digital e dos códigos-fonte de teste.

Fixação de baixo custo

  • O Medalist i1000D executa testes digitais usando um dispositivo de fixação tradicional do tipo MDA com fios longos. Testes de varredura de limites, programação serial e testes baseados em bibliotecas são executados sem falhas. Agora, os usuários têm uma solução de teste simples e eficaz e, ao mesmo tempo, mantêm seus custos operacionais baixos com os dispositivos do tipo MDA.

O Keysight Medalist i1000D está agora ainda melhor. Melhorando em relação ao seu estado anterior de ICT apenas analógico, a nova versão digital do sistema apresenta agora placas digitais programáveis por pino e um conjunto totalmente novo de interfaces gráficas de usuário (GUIs) intuitivas que facilitam a programação e o desenvolvimento.

Com seus novos recursos digitais, o Medalist i1000D agora pode realizar testes digitais baseados em bibliotecas PCF/VCL, Boundary Scan e programação serial I2C/SPI em um dispositivo de teste simples, de baixo custo e com fiação longa. Isso representa uma excelente oportunidade para clientes que buscam uma melhor cobertura de teste sem aumento de custo.

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