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Medalist i1000D

U9401B Medalist i1000D ICT 시스템은 바운더리 스캔, 직렬 프로그래밍 및 VCL/PCF 디지털 테스트를 지원하는 핀별 프로그래밍 가능한 디지털 카드를 제공합니다.

제품 이미지

  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum node count

    3456

  • System width

    1200 mm

  • Maximum parallel testing

    1

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견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

디지털 커버리지

  • i1000D의 디지털 서브시스템은 업계 선도적인 Medalist i3070 ICT의 단순함과 파워를 이용하여 마우스 몇 번 클릭만으로 테스트 속도를 조정하고 구동하고 전압을 받을 수 있는 파워를 고객들에게 제공합니다.

완전한 바운더리 스캔 기능

  • 사용자들에게 훨씬 더 많은 ICT 파워를 제공하는 키사이트는 표준 바운더리 스캔 및 연결 테스트에서 인터커넥트 테스트에 이르는 완전한 바운더리 스캔 기능을 i1000에 장착했습니다.

강력한 디버그 인터페이스

  • 디지털 디버그 GUI는 유명한 i3070 PushButton 디버그 GUI의 제어력과 유연성을 활용하여 엔지니어와 기술자들이 디지털 테스트 파라미터와 테스트 소스 코드를 완벽하게 제어할 수 있도록 합니다.

저렴한 픽스처링

  • Medalist i1000D는 전통적인 MDA 스타일의 롱 와이어 프레스 다운 픽스처를 이용하여 디지털 테스트를 실행합니다. 바운더리 스캔 테스트, 시리얼 프로그래밍 및 라이브러리 기반 테스트 모두 이상 없이 실행됩니다. 이제 사용자들은 간단하고 효과적인 테스트 솔루션을 갖추게 되었으며 동시에 MDA 스타일의 픽스처를 통해 운영 비용을 낮출 수 있게 되었습니다.

이제 키사이트 메달리스트 i1000D가 더욱 좋아졌습니다. 이전 아날로그 전용 ICT 상태에서 향상된 새로운 디지털 릴리즈로서 이제 핀별 프로그램 가능한 디지털 카드와 완전히 새로운 직관적인 소프트웨어 GUI(graphical user interface)를 제공하므로 프로그래밍과 개발을 손쉽게 할 수 있습니다.

새로운 디지털 기능을 이용하여 메달리스트 i1000D는 이제 디지털 PCF/VCL 라이브러리 기반 테스트, 바운더리 스캔 및 I2C/SPI 시리얼 프로그래밍을 간단하고 저렴한 롱 와이어 테스트 픽스처에서 수행할 수 있게 되었습니다. 이것은 비용 증가 없이 더 좋은 테스트 커버리지를 찾는 고객들에게는 더할 수 없는 기회를 제공합니다.

서비스 및 지원