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HIGHLIGHTS

  • ショート・ワイヤ・フィクスチャリングの技術により、可搬性と検査の再現性、安定度を確保
  • 革新的なデザインにより、容易な保守とフィクスチャの変更が可能
  • コンパクトなシステム構造により従来の3070システムよりも設置面積が33 ％縮小
  • 自動化ICTソリューション専用の問い合わせ窓口
  • バウンダリ・スキャン・ツールの包括的なインシステム・スイート
  • 豊富なKeysight ICTソリューション
     

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。

i3070 シリーズ5iは、信頼できるKeysight 3070/i3070システムに使用され、評価の高いKeysight独自のショート・ワイヤ・フィクスチャリングの技術を継承しています。

ショート・ワイヤ・フィクスチャリングは、ロング・ワイヤのフィクスチャリングに共通してみられるノイズやテスト安定度の劣化などの問題はありません。このため、グローバルに他の製造サイトへテストを展開する必要がある場合でも、可搬性と再現性があり安定したテストをi3070 Series 5iで実現することができます。

i3070 Series 5iは、多忙な製造ライン作業者やテスト・エンジニアにとってたいへん使いやすいシステムです。頑丈なスライドにマウントされたカード・ケージを引き出して、モジュール・カードを簡単に取り替えることができます。

人間工学的にデザインされた引き出しユニットにより、テスト・システムにフィクチャを簡単に取付けたり取外したりすることができます。この特長により、特に多品種製品を扱う製造ラインでは時間と労力を節約できます。

また、インテリジェントなフィクスチャ識別、ボード向き検出、テスト・プラン・リビジョン管理などの豊富なツールを利用して、クラス最高の自動化ソリューションを開発することができます。

i3070 シリーズ5i は、3070およびi3070のテスト・プログラムと完全な下位互換性も備えています。
 

主な仕様

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Fixture Actuation
Press Down
最大ノード・カウント
2592
Max Parallel Testing
2
System Type
Automated Handler
System Width
1206 mm
タイプ
2-Module ICT System
Fixture Actuation
最大ノード・カウント
Max Parallel Testing
System Type
System Width
タイプ
Press Down
2592
2
Automated Handler
1206 mm
2-Module ICT System
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Fixture Actuation:
Press Down
最大ノード・カウント:
2592
Max Parallel Testing:
2
System Type:
Automated Handler
System Width:
1206 mm
タイプ:
2-Module ICT System
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Featured Resources for E9988E 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, i337x Series 5i

Application Notes 2024.10.30

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This application note explores the testing challenges of modern automotive PCBAs, including high-density designs, low-current measurements, and high pin counts. It introduces the Keysight i3070 Series 7i ICT system as a robust solution to optimize testing processes, streamline workflows, and improve test coverage for automotive electronics manufacturers.

2024.10.30

Application Notes 2024.08.13

Guidelines for Upgrading i3070 Test System to Windows 11

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This application note outlines the steps for upgrading i307W0 test systems to Windows 11.

2024.08.13

Application Notes 2024.08.05

Integrating Supplementary Electronic Tests

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This application note is designed for electronics manufacturing professionals seeking to optimize their PCB testing processes. It provides detailed insights into integrating supplementary electronic tests, such as ISP, into the Keysight i3070 Series 7i ICT system. The document highlights the benefits, challenges, and step-by-step guidance for implementing these tests, making it an essential resource for improving test efficiency and product reliability.

2024.08.05

Application Notes 2024.05.30

Optimizing In-Circuit Testing with x1149 Boundary Scan Integration

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This application note explores the integration of Keysight's x1149 Boundary Scan Analyzer with the i3070 Series 7i In-Circuit Test System, introducing a flexible and efficient approach to boundary scan testing. The integration eliminates challenges associated with built-in boundary scan systems, offering enhanced security, modularity, and greater flexibility in adapting to evolving protocols and functionalities.

2024.05.30

Application Notes 2024.05.15

Integrating Standalone x1149 Boundary Scan Analyzer into i3070 Series 7i

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This application note presents an installation guide for integrating the x1149 boundary scan analyzer into the i3070 Series 7i In-Circuit Test (ICT) system, enabling efficient boundary scan testing alongside in-circuit testing.

2024.05.15

アプリケーションノート 2018.06.04

直接比較 ベクタレス テスト: NanoVTEP 対 VTEP | キーサイト

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現在では、集積回路(IC)とアクセス可能表面実装デバイス(SMD)コンポーネントがますます小型化しているので、PCBA内に実装できるようになっています。これによりスペースが縮小され、フィクスチャの密度が高まり、センサープレートと増幅器のスペースが限られるようになっています。

2018.06.04

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