검색 결과 페이지입니다. . 추천 검색 결과 보기:

HIGHLIGHTS

  • 짧은 와이어 고정 기술로 이동성, 반복성, 안정성 보장
  • 혁신적 설계로 손쉬운 유지보수와 픽스처 변경 보장
  • 컴팩트한 섀시로 기존의 3070 시스템에 비해 바닥 공간 33% 절약
  • 자동화 ICT 솔루션을 위한 단일 접점(SPOC)
  • 포괄적인 바운더리 스캔 툴의 시스템 내 패키지
  • 수상 경력을 자랑하는 키사이트 ICT 솔루션 전체 패키지

i3070 시리즈 5i는 우리의 충직한 키사이트 3070 및 i3070 시스템에 사용되는 인기 있는 키사이트 고유의 짧은 와이어 고정 기술을 보유하고 있습니다.

짧은 와이어 고정 기술은 노이즈, 테스트 안정성 저하 등 긴 와이어 고정 기술에서 흔히 발견되는 문제를 방지합니다. 이는 지구 절반에 걸친 지역이나 서로 다른 생산 현장에 테스트를 배치해야 하는 경우에도 i3070 시리즈 5i를 이용해서 이동할 수 있고 반복할 수 있으며 안정적인 테스트를 수행할 수 있다는 뜻입니다.

i3070 시리즈 5i는 바쁜 회선 작업자와 테스트 엔지니어에게 사용 용이성을 제공합니다. 카드 케이지는 고부하 슬라이드에 장착되며 쉽게 밖으로 당길 수 있기 때문에 모듈러 카드 교체가 용이합니다.

인체 공학적으로 설계된 서랍은 픽스처를 테스트 시스템에 쉽게 적재하거나 제거할 수 있게 해줍니다. 이러한 기능은 특히 하이 믹스 제품을 실행하는 라인에서 소비되는 시간과 노력을 절감시켜 줍니다.

지능형 픽스처 식별, 보드 방향 탐지 및 테스트 계획 개정 제어와 같은 일련의 툴을 이용해서 동급 최고의 자동화 솔루션을 개발할 수 있습니다.

i3070 시리즈 5i는 3070 및 i3070 테스트 프로그램의 기존 모델과 완전하게 호환됩니다.

주요 사양

데이터 시트 다운로드
Fixture Actuation
Press Down
최대 노드 카운트
N/A
Max Parallel Testing
2
System Type
Automated Handler
System Width
1206 mm
유형
2-Module ICT System
Fixture Actuation
최대 노드 카운트
Max Parallel Testing
System Type
System Width
유형
Press Down
N/A
2
Automated Handler
1206 mm
2-Module ICT System
더 보기
Fixture Actuation:
Press Down
최대 노드 카운트:
N/A
Max Parallel Testing:
2
System Type:
Automated Handler
System Width:
1206 mm
유형:
2-Module ICT System
E9988E In-Line 2-Module ICT System

Interested in a E9988E?

Extend the Capabilities for your 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, I337x Series 5I

소프트웨어
모든 소프트웨어 보기
액세서리
모든 액세서리 보기
워런티, 교정 및 서비스
모든 서비스 보기
지원
모든 지원 보기

Featured Resources for E9988E 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, i337x Series 5i

Application Notes 2024.10.30

Addressing Key Challenges in Automotive PCBA Testing

Addressing Key Challenges in Automotive PCBA Testing

This application note explores the testing challenges of modern automotive PCBAs, including high-density designs, low-current measurements, and high pin counts. It introduces the Keysight i3070 Series 7i ICT system as a robust solution to optimize testing processes, streamline workflows, and improve test coverage for automotive electronics manufacturers.

2024.10.30

Application Notes 2024.08.13

Guidelines for Upgrading i3070 Test System to Windows 11

Guidelines for Upgrading i3070 Test System to Windows 11

This application note outlines the steps for upgrading i307W0 test systems to Windows 11.

2024.08.13

Application Notes 2024.08.05

Integrating Supplementary Electronic Tests

Integrating Supplementary Electronic Tests

This application note is designed for electronics manufacturing professionals seeking to optimize their PCB testing processes. It provides detailed insights into integrating supplementary electronic tests, such as ISP, into the Keysight i3070 Series 7i ICT system. The document highlights the benefits, challenges, and step-by-step guidance for implementing these tests, making it an essential resource for improving test efficiency and product reliability.

2024.08.05

Application Notes 2024.05.30

Optimizing In-Circuit Testing with x1149 Boundary Scan Integration

Optimizing In-Circuit Testing with x1149 Boundary Scan Integration

This application note explores the integration of Keysight's x1149 Boundary Scan Analyzer with the i3070 Series 7i In-Circuit Test System, introducing a flexible and efficient approach to boundary scan testing. The integration eliminates challenges associated with built-in boundary scan systems, offering enhanced security, modularity, and greater flexibility in adapting to evolving protocols and functionalities.

2024.05.30

Application Notes 2024.05.15

Integrating Standalone x1149 Boundary Scan Analyzer into i3070 Series 7i

Integrating Standalone x1149 Boundary Scan Analyzer into i3070 Series 7i

This application note presents an installation guide for integrating the x1149 boundary scan analyzer into the i3070 Series 7i In-Circuit Test (ICT) system, enabling efficient boundary scan testing alongside in-circuit testing.

2024.05.15

Application Notes 2024.05.07

Integrating LED Analyzer with Keysight's In-Circuit Tester

Integrating LED Analyzer with Keysight's In-Circuit Tester

This application note explores how to seamlessly integrate the FEASA F LED Analyzer with Keysight's i3070 Series 7i In-Circuit Test System to streamline LED testing processes.

2024.05.07

모든 리소스 보기

모든 리소스 보기

Related Products

E9988EL 인라인 2-모듈 ICT 시스템

E9988EL 인라인 2-모듈 ICT 시스템

E9988EL 2 모듈 인라인 ICT, i3070 시리즈 5i를 사용하면 슬림한 풋프린트에서 최대 2592개 노드의 테스트가 가능합니다. SMEMA 호환성을 고려해 엄격한 사용에 따라 제조

E9986E 인라인 4-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i367x 시리즈 5i

E9986E 인라인 4-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i367x 시리즈 5i

E9988E 키사이트 메달리스트 i3070 시리즈 5i ICT(Inline In-Circuit Test) 시스템은 자동화된 제조 라인에 산업을 선도하는 ICT 기술을 적용합니다.

E9902G 2-모듈 ICT 시스템, i317x 시리즈 6

E9902G 2-모듈 ICT 시스템, i317x 시리즈 6

E9902G는 2592개 노드를 지원하고 시리즈 6은 실리콘 네일 및 경계 스캔을 최대 4배 더 빠르게 실행하며, 전반적인 물리적 공간이 전보다 16% 더 작습니다.

2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i327x 시리즈 6

2-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템, i327x 시리즈 6

키사이트의 E9905G는 최대 2592개 노드를 지원하고 시리즈 6은 디지털 테스트를 최대 4배 더 빠르게 실행하며, 전반적인 물리적 공간이 38% 더 작습니다.

E9903G 4-모듈 ICT 시스템, i307x 시리즈 6

E9903G 4-모듈 ICT 시스템, i307x 시리즈 6

E9903G 4-모듈 ICT(In-Circuit Test) 시스템은 최대 5184개 노드를 지원하고 시리즈 6은 디지털 테스트를 최대 4배 더 빠르게 실행하며, 전반적인 물리적 공간이 38% 더 작습니다.

x1149 바운더리 스캔 분석기

x1149 바운더리 스캔 분석기

새로운 x1149 바운더리 스캔 분석기는 전기 구조 테스트를 위한 도구로, IEEE 1149.x 표준을 기반으로 JTAG Technologies의 강력한 바운더리 스캔 기능을 갖추었습니다.

nanoVTEP 벡터리스 테스트 어플리케이션

nanoVTEP 벡터리스 테스트 어플리케이션

키사이트 벡터리스 테스트 솔루션은 테스트 커버리지를 개선하는 데 도움이 되는 초소형 앰프를 포함하고 있습니다. 차지하는 면적이 60% 더 작아져 필요한 바닥 공간 감소.

Want help or have questions?

문의하기