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87606B
優れた挿入損失再現性でランダム誤差の要素を低減。パルス駆動が必要なアプリケーションに使用
Keysight 87606Bマトリクス・スイッチは、、その長寿命と信頼性により、テストや測定の自動化、信号モニタリング、ルーティングなどのアプリケーションの要求に応えます。革新的なデザインと厳密なプロセス制御により、試験用測定器やスイッチング・インタフェースなどに最適な、きわめて再現性の高いスイッチング・エレメントを実現しています。本スイッチは1000万サイクル以上の動作が可能で、すべての電気的仕様が最低500万サイクルにわたって保証されています。 本スイッチはきわめて優れた挿入損失の再現性を備えています。これにより、測定経路のランダム誤差が小さくなり、測定確度が向上します。量産試験システム、衛星/アンテナ・モニタリング・システム、試験用測定器などにとって、スイッチ寿命は重要です。この長寿命のスイッチを使えば、システムのアップタイムが増加し、校正や保守の回数を削減できるため、維持コストの節約が可能です。
N1812UL
このスイッチは、トランスファー・スイッチ・アプリケーション、信号経路反転、あるいは校正ポートなどにお使いいただけます。
Keysight N1812ULラッチ式同軸スイッチは、柔軟に構成可能で、優れた再現性、長寿命、高い信頼性を実現します。
構成オプションおよび性能のトレードオフの詳細については、オンライン製品概要を参照してください。
N1811TL
コンパクトなデザインおよび比類のない構成柔軟性を備え、ドロップイン/ドロップアウトアプリケーションに最適です。
Keysight N1811TLラッチ式同軸スイッチは、柔軟に構成可能で、優れた再現性、長寿命、高い信頼性を実現します。
構成オプションおよび性能のトレードオフの詳細については、オンライン製品概要を参照してください。
N1810UL
柔軟に構成可能で、優れた再現性、長寿命、高い信頼性を実現します。
Keysight N1810UL ラッチ式同軸スイッチは、柔軟に構成可能で、優れた再現性、長寿命、高い信頼性を実現します。
構成オプションおよび性能のトレードオフの詳細については、オンライン製品概要を参照してください。
N1810TL
50 Ωで終端された未使用ポートを備えており、ポートマッチングが必要なアプリケーションに最適です。
Keysight N1810TL ラッチ式同軸スイッチは、柔軟に構成可能で、優れた再現性、長寿命、高い信頼性を実現します。
構成オプションおよび性能のトレードオフの詳細については、オンライン製品概要を参照してください。
U9422B
U9422B FET半導体スイッチ(300kHz~50GHz)は、物理的に接続を変えることなく信号を切り替えられるので、同じセットアップで複数のテストを行うことが可能です。
U9422B FET半導体スイッチは、50 GHzまでの広い動作周波数レンジで、優れたアイソレーション性能およびビデオリーケージ性能を発揮します。 SPDTスイッチは、システムの柔軟性とシンプルさを向上させるために使用され、USB接続で簡単に制御できます。PXIeおよびUSB VNA用の接続ポートまたははんだ付けコネクタ(オプション)により、マルチポート構成の柔軟性が得られます。
M9101A
M9101Aは、500 μsのスイッチング速度を備えた64チャネルの2線式マルチプレクサで、さまざまなチャネルの信号を単一ポイントへ高速にルーティングします。
M9101Aは、高密度の64チャネル・マルチプレクサを1台のPXIモジュールで実現しています。このモジュールは、多数のチャネルを1つのポイントにルーティングします。スイッチは別の接点が閉じる前に開く(ブレーク・ビフォア・メイク)モードで動作できます。この場合、2つのポイントが同時に接続されることはありません。また、必要な場合、複数のチャネルを同時に接続できます。このモジュールは、自動テスト環境(ATE)やデータ収集システムで、複数のアナログ信号を1つの測定デバイスにルーティングするために最適です。各チャネルは、ハイとローの2線をスイッチングします。高速で長寿命のリード・リレーは、最大100 Vrms、最大10 Wのパワーのスイッチングが可能です。接続オプションには、耐久性の高いコネクタ・ブロックまたは標準のケーブル接続があります。
ソフトウェア・ドライバは、Visual Studio®、C、C++、C#、Visual Basic、MATLAB®、LabVIEW™などの一般的なプログラミング環境をサポートします。高品質スイッチと耐久性のある接続により、信頼性の高い測定を実現でき、高速なリード・リレーにより、製品のスループットが向上します。Keysight Connection Expertとソフト・フロント・パネルにより、インストールと設定を容易に行えます。
Visual Studioは、Microsoft Corporationの登録商標です。
MATLABは、The MathWorks, Inc.の登録商標です。
LabVIEWは、National Instrumentsの登録商標です。
U9397C
周波数レンジを最大化し感度の高いコンポーネントへの損傷をビデオリーケージを最小限に抑えることで防ぎます。
U9397C半導体スイッチは、300 kHz~18 GHzの周波数レンジにおいて、高いアイソレーション、低SWR、高速スイッチングなど、優れた性能を提供します。アプリケーションとして、測定システム、通信、レーダなどの高速RF/マイクロ波SPDTスイッチが必要なテスト・システムがあります。
L7204B
通常12 GHzで90 dBという比類なきアイソレーションを可能にする終端なしのスイッチで、信号精度を向上。
キーサイトL7204B終端なしマルチポート スイッチは信号RFおよびマイクロ波信号のルーティングおよびテストアプリケーションにおける確度を向上させます。 この電気機械式スイッチは比類のない絶縁性と0.03 dBの挿入損失再現性を提供してスイッチの200万回サイクルを保証します。 L7204Bの低挿入損失再現性は測定経路におけるランダムなエラーの発生源を減らして測定確度を向上させます。 このスイッチの再現性と信頼性は測定確度を保証し、較正サイクルの短縮とテストシステムのアップタイムの増加により所有コストを削減することができます。 キーサイトの厳密な設計と厳しい製造仕様によって高い再現性を持つスイッチング能力が可能になります。
システムインテグレーションに取り組む製造テストエンジニアに最適なL7204B終端なしマルチポートスイッチは、信号モニタリングやルーティングアプリケーションに経済的な価格と信頼性の高いソリューションを提供します。
注記:特に記載のない限り、オプション024および161はデフォルトのオプションです。
L7204C
通常12 GHzで90 dBという比類なきアイソレーションを可能にする終端なしのスイッチで、信号精度を向上
キーサイトL7204C終端なしマルチポート スイッチは信号RFおよびマイクロ波信号のルーティングおよびテストアプリケーションにおける確度を向上させます。 この電気機械式スイッチは、比類のない絶縁性と0.03 dBの挿入損失再現性を提供してスイッチの200万回サイクルを保証します。 L7204Cの低挿入損失再現性は測定経路におけるランダムなエラーの発生源を減らして測定確度を向上させます。 このスイッチの再現性と信頼性は測定確度を保証し、較正サイクルの短縮とテストシステムのアップタイムの増加により所有コストを削減することができます。 キーサイトの厳密な設計と厳しい製造仕様によって高い再現性を持つスイッチング能力が可能になります。
システムインテグレーションに取り組む製造テストエンジニアに最適なL7204C終端なしマルチポートスイッチは、信号モニタリングやルーティングアプリケーションに経済的な価格と信頼性の高いソリューションを提供します。
注記:特に記載のない限り、オプション024および161はデフォルトのオプションです。
87222C
優れた再現性、低挿入損失、高アイソレーション、そして柔軟性を信号ルーティングアプリケーションで実現します。
Keysight 87222C 4ポート 同軸トランスファースイッチは、信号ルーティングアプリケーションにとって非常に重要な柔軟性を実現します。 優れた再現性、低挿入損失、高アイソレーションを実現します。 これらのスイッチは、信号ルーティングおよびコンディショニングアプリケーションのデザインの簡素化を可能にします。 Keysight 87222Cは、ドロップアウトスイッチ、2つの入力と2つの出力間のスイッチング、もしくは信号反転スイッチングなどさまざまなアプリケーションで使用することができます。
同軸トランスファスイッチの詳細
87104A
より高度な性能試験システムに必要な挿入損失の再現性とアイソレーションを向上
Keysight 87104Aマルチポート・スイッチは、挿入損失の再現性とアイソレーションを改善するためのスイッチで、高性能のテスト・システムに最適です。このスイッチの高い再現性と信頼性は正確なATS測定に不可欠で、校正回数の削減とテスト・システムのアップタイムの増加により維持コストの節約に貢献します。Keysight 87104A終端付きマルチポート・スイッチは、その長寿命と信頼性により、テストや測定の自動化、信号モニタリング、ルーティングなどのアプリケーションの要求に応えます。Keysightの厳しい製造・設計基準により、高いスイッチング再現性が実現されています。優れた挿入損失の再現性により、測定経路のランダム誤差が小さくなり、測定確度が向上します。