シグナルインテグリティの問題の発見と解決
  • コース
  • 10 製品

このコースでは、シグナルインテグリティの問題を特定する方法を学び、デジタルチャネルのアイを開くのに役立つテクニックを習得します。

学び：

  • デジタル通信チャネルが故障する原因
  • アイ開口のための技術
  • InfiniiumオシロスコープとVNAを使用してシグナルインテグリティを解析する際の基本。
レッスン
第1課の画像 - シグナル・インテグリティの問題

レッスン - シグナル・インテグリティの問題

シグナルインテグリティの概念を紹介し、高速デジタル設計におけるシグナルインテグリティの問題を発見し解決するための4つのステップについて説明します。
第2課の図 - アイダイアグラムを用いた不良チャネルの評価

レッスン - アイダイアグラムチャネル 故障チャネルの評価

高速デジタル設計における障害のあるチャネルを評価するためのアイダイアグラムの使用について解説します。
第3課の画像 - 故障したチャンネルの調査

レッスン - 故障チャチャネルルの調査

時間領域反射測定（TDR）を使用して、不良チャネルを調査する方法を学びます。
第4課の図 - Sパラメータの基礎

レッスン - Sパラメータの基礎

タイムドメインリフレクトメトリー（TDR）を使用して、故障したチャネルを調査する方法を検証します。
第5課の図 - シグナルインテグリティの根本原因の特定

レッスン - 信号完全性の根本原因の検証

タイムドメインリフレクトメトリ (TDR) を使用して、不良チャネルを調査する方法について説明します。
第6課の画像 - 目を開くテクニック

レッスン6 - アイを開くためのテクニック

障害のあるチャネルを調査するための時間領域反射測定（TDR）の使用方法について解説します。
第7課の画像 - 目を開くテクニック

レッスン7 - アイ開口のテクニック

失敗した信号のアイを開くために使用できる技術を理解する。オープンアイとは、信号が歪んでいないことを示す、広くてクリアなアイダイアグラムです。アイを開くための技術には、終端抵抗の調整、直列抵抗の追加、差動信号の使用などがあります。
高性能デジタル製品向けの画像

カタログ

高性能デジタル製品

現代の製品は、処理速度の高速化、低消費電力化、およびより高精度な測定の必要性を高めています。
「シグナル・インテグリティの基礎」の画像

ホワイトペーパー

シグナルインテグリティーの基礎

本資料には、高い信号インテグリティを実現するためにデバイスを設計するのに役立つ、シミュレーションと測定に関する推奨事項が含まれています。
UXRにおけるシグナル・インテグリティの基礎に関する画像

アプリケーションノート

UXRにおける信号完全性の基礎

このアプリケーションノートでは、次世代テストにとってシグナルインテグリティがなぜ重要であるかを強調します。
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ソフトウェア

W3624B PathWave ADSコア ＋ EM設計＋レイアウト＋HSD回路シミュレーション＋SIPro

レイアウト後の高速シリアル用EM検証が含まれます。 SIProを使用すると、複雑な高速PCBのシグナルインテグリティが解析でき、最終的にトランジェントおよびチャネルシミュレータで使用可能な正確な電磁界モデルの抽出が可能になります。
関連ユースケース
「PCBのシグナルインテグリティの分析方法」に関する画像

シグナルインテグリティ分析方法

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学習確認書