Como reproduzir falhas em dispositivos dependentes de padrões

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Gerar estímulo de pulso controlado

Falhas em dispositivos dependentes de padrões são difíceis de isolar quando um dispositivo passa em testes básicos de pulso ou funcionais, mas apresenta falha apenas com sequências de dados específicas, transições repetidas, execuções prolongadas ou estímulos com sequências binárias pseudoaleatórias. Uma fonte real a montante pode não oferecer controle ou repetibilidade suficientes para determinar qual condição de padrão causa a falha.

Para reproduzir essas falhas de maneira consistente, os engenheiros podem aplicar estímulos controlados na forma de pulsos, padrões, dados ou sequências binárias pseudoaleatórias na entrada do dispositivo. Eles podem variar o conteúdo dos padrões, o comportamento de repetição, o tempo, os níveis e a densidade de transição, enquanto monitoram a resposta do dispositivo com um osciloscópio, um analisador, um contador ou um circuito de medição do sistema.

Solução para geração de estímulos padronizados

A depuração dependente de padrões requer a aplicação de estímulos controlados, como dados, padrões e sequências binárias pseudoaleatórias, enquanto se monitora a resposta do dispositivo. Um gerador de pulsos da Keysight com recursos arbitrários de padrão, dados, temporização e função fornece estímulos repetíveis para reproduzir falhas que ocorrem apenas sob condições específicas de sequência. Os engenheiros podem configurar o conteúdo do padrão, o comportamento de repetição, a temporização, os níveis de tensão e a densidade de transição para comparar o comportamento do dispositivo em diferentes casos de estímulo conhecidos. A configuração oferece suporte à depuração funcional quando uma falha depende da sequência exata do sinal, em vez de um único pulso ou de uma condição de entrada estática.
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