Come riprodurre i guasti dei dispositivi dipendenti dalla configurazione

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Generare uno stimolo a impulsi controllato

I guasti dei dispositivi dipendenti da specifici schemi sono difficili da isolare quando un dispositivo supera i controlli di base relativi agli impulsi o alle funzionalità, ma presenta un guasto solo in presenza di specifiche sequenze di dati, transizioni ripetute, cicli prolungati o stimoli costituiti da sequenze binarie pseudocasuali. Una vera fonte a monte potrebbe non garantire un controllo o una ripetibilità sufficienti per determinare quale condizione dello schema causi il guasto.

Per riprodurre questi guasti in modo coerente, gli ingegneri possono applicare all’ingresso del dispositivo stimoli controllati sotto forma di impulsi, pattern, dati o sequenze binarie pseudocasuali. Possono variare il contenuto dei pattern, il comportamento di ripetizione, la temporizzazione, i livelli e la densità delle transizioni, monitorando al contempo la risposta del dispositivo tramite un oscilloscopio, un analizzatore, un contatore o un percorso di misurazione del sistema.

Soluzione per la generazione di stimoli a modello

Il debug basato su pattern richiede l’applicazione di dati controllati, pattern e sequenze binarie pseudocasuali come stimoli, monitorando al contempo la risposta del dispositivo. Un generatore di impulsi Keysight dotato di funzionalità arbitrarie relative a pattern, dati, temporizzazione e funzioni fornisce stimoli ripetibili per riprodurre i guasti che si verificano solo in specifiche condizioni di sequenza. Gli ingegneri possono configurare il contenuto dei pattern, il comportamento di ripetizione, la temporizzazione, i livelli di tensione e la densità di transizione per confrontare il comportamento del dispositivo in diversi casi di stimolo noti. La configurazione supporta il debug funzionale quando un guasto dipende dall’esatta sequenza del segnale piuttosto che da un singolo impulso o da una condizione di ingresso statica.
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