Choose a country or area to see content specific to your location
O que você está procurando?
Integrar o projeto e os testes físicos para avaliar a conformidade em relação a quedas, impactos, choques e vibrações antes mesmo da criação do hardware.
Desbloqueie seu upgrade gratuito para o próximo nível de largura de banda.
Reforçar a confiabilidade da rede 1.6T para cargas de trabalho em escala de IA, desde os transceptores até as interconexões.
Combine o software Keysight VSA com o novo analisador de sinais XA5 para obter recursos avançados de visualização, demodulação e análise — comece hoje mesmo seu período de avaliação de 30 dias.
Com memória e armazenamento extras, esses NPBs aprimorados executam o software de segurança e monitoramento de desempenho de IA da Keysight e a pilha de IA.
Explore fluxos de trabalho completos que abrangem o projeto de circuitos integrados, a validação, o teste de wafers e a fotônica.
Explore planos de suporte com curadoria, priorizados para mantê-lo inovando com velocidade.
Maximize a precisão e o desempenho com acessórios de alta precisão projetados para os instrumentos da Keysight.
Explore a análise de sinais de canal duplo e de banda ultralarga para fluxos de trabalho de RF exigentes.
Obtenha análises mais rápidas e precisas com nosso novo osciloscópio multicore de 12 bits com frequência de até 33 GHz. Troque seu osciloscópio antigo e receba um crédito para a compra de um novo XR8.
Notas de aplicação, fichas técnicas, projetos de referência e procedimentos de teste confiáveis para agilizar as decisões de projeto e validação.
Bootcamps práticos que ensinam projeto de sistemas, métodos de teste e fluxos de trabalho de produção que os engenheiros podem aplicar imediatamente.
Histórias de sucesso
Acesso rápido às tarefas de autoajuda mais frequentes relacionadas ao suporte.
Conteúdo adicional para atender às necessidades de seu produto.
Explore os serviços para acelerar cada etapa de sua jornada de inovação.
As fontes de laser são o núcleo da injeção óptica de falhas, fornecendo a energia utilizada para induzir falhas controladas em dispositivos semicondutores. Ao selecionar o comprimento de onda, o nível de potência, as características do pulso e o tamanho do feixe adequados, os engenheiros de segurança podem direcionar suas ações a tecnologias específicas de dispositivos, superfícies de ataque e objetivos de avaliação. Diferentes tecnologias de laser oferecem vantagens exclusivas, desde a varredura rápida em todo o chip e a descoberta de vulnerabilidades até a injeção de falhas altamente localizada e a investigação avançada da causa raiz.
Permite a aplicação de uma ampla gama de metodologias de injeção de falhas, desde a pesquisa de vulnerabilidades e a validação de contramedidas até testes voltados para certificação.
Wavelength
445 nm, 808 nm, 1064 nm, 532 nm, 980 nm
Frequência máxima
50 MHz até 250 MHz
Product type
Multimode fault injection laser, Diode pumped solid state fault injection laser, Single mode diode fault injection laser
Technology
Device Security
DS1112A
O DS1112A é um laser de diodo multimodo de infravermelho próximo (NIR) com comprimento de onda de 1064 nm para injeção de falhas, com alta potência nominal e duração de pulso configurável.
O laser de injeção de falha multimodo DS1112A de 1064 nm utiliza diodos laser multimodo com alta potência nominal, permitindo a varredura grosseira da superfície do chip com grande tamanho de ponto e intensidade suficiente dentro do ponto.
DS1113A
O laser de injeção de falha de estado sólido bombeado por diodo DS1113A de 532 nm é um laser verde que oferece acionamento rápido e confiável.
O laser de injeção de falha de estado sólido bombeado por diodo DS1113A de 532 nm complementa os lasers de diodo e oferece melhores recursos de injeção de falha em comparação com os sistemas de corte a laser.
DS1115A
O laser de modo único DS1115A oferece um feixe de tamanho reduzido e controle máximo do tempo de pulso. Utilize este modelo de 980 nm para substratos mais finos.
Este laser monomodo é a melhor solução para um tamanho de ponto pequeno (até 1 µm). Os lasers de diodo oferecem controle máximo de temporização, e as fibras permitem flexibilidade máxima na sua configuração de injeção de falha a laser. O modelo DS1115A (980 nm) é ideal para dispositivos com substratos mais finos, como chips de cartões inteligentes.
Inove rapidamente com planos de suporte personalizados e tempos de resposta e resolução priorizados.
Obtenha assinaturas previsíveis baseadas em locação e soluções completas de gerenciamento do ciclo de vida para atingir suas metas de negócios mais rapidamente.
Experimente um serviço diferenciado como assinante do KeysightCare para obter respostas técnicas comprometidas e muito mais.
Garanta que seu sistema de teste funcione de acordo com as especificações e atenda às normas locais e globais.
Faça medições rapidamente com treinamento interno ministrado por instrutor e eLearning.
Faça o download do software Keysight ou atualize seu software para a versão mais recente.
Uma fonte de laser gera a energia óptica utilizada para induzir falhas controladas em um dispositivo semicondutor. Ela determina características-chave do ataque, incluindo comprimento de onda, potência, tamanho do feixe, duração do pulso e precisão de temporização, fatores que influenciam a eficácia de uma avaliação por injeção de falhas.
Diferentes tecnologias de semicondutores, tipos de pacotes e objetivos de avaliação exigem características diferentes do laser. Algumas fontes de laser são otimizadas para a detecção rápida de vulnerabilidades em todo o chip, enquanto outras oferecem a precisão necessária para atingir regiões específicas do circuito.
A fonte de laser ideal depende de vários fatores, entre os quais:
A equipe de Segurança de Dispositivos da Keysight pode ajudar a identificar o comprimento de onda e a tecnologia de laser mais adequados para o seu dispositivo-alvo.
O comprimento de onda afeta a forma como a energia do laser interage com os materiais semicondutores e a profundidade com que ela penetra no dispositivo. Comprimentos de onda mais curtos são normalmente absorvidos mais perto da superfície, tornando-os adequados para ataques pela face frontal. Comprimentos de onda mais longos, na região do infravermelho próximo, podem penetrar mais profundamente no silício, possibilitando metodologias de ataque pela face posterior.
A escolha do comprimento de onda adequado para o seu ponto de acesso e tipo de pacote afeta diretamente a precisão da segmentação, a eficácia na detecção de falhas e o sucesso geral da avaliação.
Os ataques à face frontal têm como alvo a superfície superior do chip semicondutor, onde se localizam as camadas de interconexão metálica e os circuitos.
Os ataques pela parte traseira têm como alvo o dispositivo através do substrato de silício, por baixo do chip. Essa abordagem costuma ser preferida quando as camadas metálicas da parte frontal obstruem o acesso a circuitos essenciais para a segurança ou quando as restrições do pacote dificultam o acesso pela parte frontal.
A abordagem adequada depende da tecnologia de semicondutores, da estrutura do pacote e dos objetivos da avaliação.
Os lasers multimodo geralmente produzem pontos de maior tamanho e maior potência óptica, o que os torna ideais para varredura rápida, detecção de falhas e caracterização abrangente de chips.
Os lasers monomodo geram pontos de luz muito menores e mais focados, permitindo a injeção de falhas altamente localizada e a investigação detalhada de regiões específicas do circuito.
Os lasers DPSS (Diode-Pumped Solid-State) geram pulsos com alta potência de pico e características de pulso estáveis. Eles são comumente utilizados em campanhas avançadas de injeção de falhas que exigem fornecimento consistente de energia e resultados altamente repetíveis, especialmente quando é necessária uma energia de pulso mais intensa.
O tamanho do feixe determina a área do dispositivo que está sendo atingida pelo laser.
Uma área de ação maior pode simplificar a detecção de vulnerabilidades e a caracterização geral, ao afetar uma área mais ampla do chip. Uma área de ação menor permite a injeção de falhas altamente localizada e um direcionamento mais preciso a elementos individuais do circuito.
Muitas avaliações começam com um tamanho de ponto maior para identificar regiões sensíveis e, em seguida, passam para um tamanho de ponto menor a fim de isolar os circuitos exatos responsáveis pelo comportamento observado.
O sucesso da injeção de falhas geralmente depende de se causar uma perturbação em um dispositivo em um momento muito específico, como durante um determinado ciclo de relógio ou uma verificação de segurança.
Fontes de laser com larguras de pulso curtas, baixo jitter de temporização e atrasos precisos entre o disparo e o laser permitem que os engenheiros controlem exatamente quando ocorre uma falha. Isso melhora a repetibilidade do ataque, ajuda a reproduzir condições de falha bem-sucedidas e aumenta a confiança nos resultados da avaliação.
A fonte de laser ideal depende da tecnologia alvo, dos objetivos da avaliação e do nível de precisão exigido.
Alguns usuários priorizam a detecção ampla de falhas, enquanto outros exigem uma análise altamente localizada desde o início. Uma abordagem comum é começar com uma fonte de maior potência e um tamanho de ponto maior para identificar regiões sensíveis e, em seguida, passar para uma fonte de laser mais focada para uma investigação detalhada e análise da causa raiz.
A equipe de Segurança de Dispositivos da Keysight pode ajudar a recomendar a fonte de laser e a configuração de sistema mais adequadas para sua avaliação.
Sim. Os lasers de injeção de falhas podem operar em níveis de potência que exigem procedimentos e equipamentos adequados de segurança para lasers.
A Keysight oferece soluções de segurança específicas, projetadas para funcionar em conjunto com seus sistemas de injeção de falhas a laser. A equipe de Segurança de Dispositivos da Keysight pode orientá-lo sobre a configuração de segurança adequada para o ambiente do seu laboratório e para a sua configuração de avaliação.