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Time-to-Market and Lower Cost-of-Test

 

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Ant.
NX4881A
4881HV High Voltage Wafer Test System 
A partir de  
Número Máximo de Pinos de Medição: 29
Resolução Mínima de Medição de Corrente: 10 fA
Resolução Mínima de Medição de Tensão: 2 µV
Número máximo de canais de saída SPGU: N/A
P9001A
P9001A Massively Parallel Parametric Test System 
A partir de  
Número Máximo de Pinos de Medição: 100
Resolução Mínima de Medição de Corrente: 0.1 fA
Resolução Mínima de Medição de Tensão: 2 µV
Número máximo de canais de saída SPGU: N/A
P9002A
P9002A Parallel Parametric Test System 
A partir de  
Número Máximo de Pinos de Medição: 100
Resolução Mínima de Medição de Corrente: 0.1 fA
Resolução Mínima de Medição de Tensão: 2 µV
Número máximo de canais de saída SPGU: 4 channels
N9100A
4080 Series Parametric Test Systems 
A partir de  
Número Máximo de Pinos de Medição: 48
Resolução Mínima de Medição de Corrente: 1 fA
Resolução Mínima de Medição de Tensão: 2 µV
Número máximo de canais de saída SPGU: N/A
NX5402A
NX5402A Silicon Photonics Wafer Test System 
A partir de  
Número Máximo de Pinos de Medição: 12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
Resolução Mínima de Medição de Corrente: N/A
Resolução Mínima de Medição de Tensão: N/A
Número máximo de canais de saída SPGU: N/A
NX5730A
NX5730A High Throughput 1 ns Pulsed IV Memory Test Solution 
A partir de  
Número Máximo de Pinos de Medição: 2
Resolução Mínima de Medição de Corrente: 1 pA
Resolução Mínima de Medição de Tensão: N/A
Número máximo de canais de saída SPGU: N/A
ellipsis
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