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可擴充多埠和多使用者 TimeSync 測試儀與 ORAN DU 模擬器
Keysight 時間同步分析儀將 O-DU 模擬、硬體定時損害注入和多埠同步測量整合到一個統一平台，旨在驗證 ORAN 前傳和分散式 MIMO 天線系統的時序性能。這些分析儀可實現控制、使用者、同步和管理平面測試 (C/U/M/S 平面)，同時以 1 ns 時間戳記解析度測量多個無線電單元的時脈品質和偏移。它們提供精確的 SyncE/PTP 模擬和動態損害注入，用於嚴格的 O-RU 同步驗證和大規模 MIMO 除錯。立即索取我們熱門配置之一的報價。 需要協助選擇嗎？請參閱下方資源。
多埠時序分析
模擬 10 GE 至 100 GE 前傳，同時在真實網路條件下驗證 C/U/M/S 平面時序和 PTP 設定檔的相容性。
時序損害注入
精準注入時間誤差、頻率漂移和保持缺陷，並透過硬體計時的準確度跨多個埠進行，以驗證同步裕度和穩固性。
偏移和相位
測量天線路徑中基於時間戳記的偏移和相位，以確保分散式 RU 系統中波束成形的精確時序。
穩定的參考選項
從 GNSS、PPS、銣或 10 MHz 參考輸入中選擇，以使用 Python 或 REST API 自動化同步測試，實現可重現的驗證。
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Form factor
Appliance, Timing Card (Non-Rubidium), Timing Card (Rubidium), Ethernet Line Card, Software
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Interface speed modes
100GE, 25GE, 10GE
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Protocol support
TSA Advanced Software, PTP Generation and Measurement, SyncE Generation and Measurement, O-RU S-Plane Conformance
最熱門配置
時間同步分析儀設備與基礎軟體
時間同步分析儀時序卡
時間同步分析儀含銣原子鐘時序卡
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
- 時間誤差 (TE) 代表與理想時間參考的瞬時偏差。在前傳網路中，過多的 TE 可能會導致符號錯位、觸發重傳並增加延遲。
- 漂移是指時間中的長期低頻變化。漂移會降低同步裕度，並可能導致累積相位漂移，進而降低同調無線電系統中的訊雜比 (SNR)。
在 5G 和 ORAN 部署中，這兩種損耗都會破壞相位同調波束成形，導致符際干擾，並影響 AR/VR、工業自動化和私有 LTE/5G 網路等應用程式的服務品質 (QoS)。進階測試平台可讓工程師以次奈秒級時間戳記解析度量測這些損耗，並注入這些損耗以驗證網路彈性和保持性能。
- IEEE 1588v2：用於基於封包的相位和頻率同步的精密時間協定。
- ITU-T G.826x 和 G.827x：時間和頻率準確度的電信標準，包括用於 C/D 級時鐘的 G.8273.2 時間誤差預算。
- SyncE (ITU-T G.8261/G.8262)：用於透過乙太網路連結進行頻率同步的同步乙太網路。
- ORAN 前傳一致性：S 平面、M 平面和 U 平面時序效能要求，確保多供應商 O-RU 和 O-DU 部署之間的互通性。
符合這些標準可確保網路整合期間的時序準確度、服務可靠性和順暢互通性。相符性測試對於在生產 5G 網路中部署 O-RU 和傳輸交換器之前進行驗證尤其重要。
現代前傳和回傳網路採用多種線路速率，包括 10GE、25GE、50GE、100GE，以及新興的 400GE/800GE 鏈路，每個都具有獨特的序列化延遲、PHY 特性與協定堆疊行為。同步性能會因封包化延遲、緩衝區架構和抖動特性檔的變化，而隨著介面速度顯著變化。
在所有相關速度下進行測試，可確保在不同頻寬條件、流量設定檔和負載情境下，維持時序對準和相位準確度。這對於規劃可擴充 5G 到 6G 演進的營運商至關重要，因為在更高速度下未偵測到的同步降級可能會在升級後導致昂貴的現場問題。