W8533EP IC-CAP Angelov-Gan 萃取軟體套件

• 完整量測模組 — 軟體套件擷取直流和 S 參數量測資料，用來萃取模型和進行開路/短路解嵌入。量測可使用 Keysight B1505A 高功率/高電壓分析儀和 Keysight PNA 向量分析儀進行。
• 統包式萃取流程 — 提供逐步的萃取流程來獲得初步參數集。此流程由 Keysight 與業界夥伴為此類元件建模的合作經驗得出。
• 完全地客製彈性 — 萃取流程可完全客製化。可創造並組織新的萃取步驟，以對特定技術調適萃取流程。模型使用開放的 Verilog-A 原始碼，公式可由使用者自行改進。
• 易於使用的介面 — 使用者將由一個特別設計的操作介面引導，完成設定、量測和萃取程序。強大的資料顯示功能，讓使用者在方便好用的多圖表視窗中，比較量測和模擬資料。

W8533EP IC-CAP Angelov-GaN 萃取軟體套件提供氮化鎵（GaN）元件完整的建模解決方案。受到元件電力特性的陷捕和熱效應影響，GaN 元件的建模極富挑戰性。砷化鎵模型對這類元件普遍來說不夠準確，由查爾摩斯工學院 I. Angelov 教授開發的 Angelov-GaN 模型便很快地成為業界的標準解決方案。

此軟體套件由是德科技與業界合作夥伴一同開發，並經過實際 GaN 製程的驗證。提供專屬軟體環境，讓使用者進行 Angelov-GaN 模型的必要量測和萃取。支援直流和 S 參數量測及解嵌入所需的一般直流和網路分析儀。易於使用的操作介面讓使用者逐步執行萃取流程，以萃取模型參數。軟體套件提供統包式流程，可完全客製化。使用 Keysight 先進設計系統（ADS），利用公開的 Angelov-GaN 模型 Verilog-A 版本進行模擬。

圖 1：量測模組可簡單地完成設定並執行直流和射頻量測

圖 2：Angelov-GaN 軟體套件的萃取流程

圖 3：資料顯示功能可比較量測與模擬資料

產品需求

Keysight Angelov-GaN 萃取軟體套件需要 W8501EP/ET IC-CAP 環境、W8502EP/ET IC-CAP 模擬和分析及 W8520EP/ET IC-CAP 儀器連接性才能執行。