Choose a country or area to see content specific to your location
確認您的國家或地區
中國臺灣
請確認
確認您的國家/地區，以存取相關定價、特別優惠、活動和聯絡資訊。
探索適用於高要求射頻工作流程的雙通道與超寬頻訊號分析。
透過我們這款全新多核心、12 位元、最高頻率達 33 GHz 的示波器，獲得更快速、更清晰的洞察。以舊換新，將您的舊示波器折抵購買新款 XR8 的費用。
將設計與實體測試相結合，在硬體尚未問世之前，即評估其是否符合跌落、衝擊、震動及振動的相關規範。
解鎖您免費升級至下一級頻寬的資格。
強化從收發器到互連設備的 1.6T 網路可靠性，以因應 AI 規模的工作負載。
將 Keysight VSA 軟體與新的 XA5 訊號分析儀搭配使用，以進行進階視覺化、解調變和分析 — 立即開始您的 30 天試用。
這些強化型 NPB 具備額外的記憶體和儲存空間，可執行 Keysight 的 AI 安全性和效能監控軟體以及 AI 堆疊。
探索涵蓋積體電路設計、驗證、晶圓測試及光子學的端到端工作流程。
探索精選的支援計畫，這些計畫經過優先排序，旨在讓您快速創新。
透過專為 Keysight 儀器設計的精準配件，最大化準確度和性能。
權威應用說明、資料表、參考設計和測試程序，可加速設計與驗證決策。
實作訓練營，教授系統設計、測試方法和生產工作流程，工程師可立即應用。
成功案例
全年無休的自助服務入口網站
更多的產品支援資訊
更多可協助您加速創新的是德科技服務
Learning Resources
認識向量網路分析的基本原理
示波器基本原理 — 應用說明
我們將討論示波器應用，並為您概述基本量測和性能特性。
進行最佳電源完整性量測
了解如何在量測疊加在直流電源上日益微小且快速的交流訊號的挑戰下，進行最佳訊號完整性量測。
光波導 AR 眼鏡中的光柵設計
使用 RSoft 進行 AR 眼鏡光波導耦合光柵與擴瞳光柵的設計和開發、模擬分析光柵性能及繞射行為，再使用 LightTools 整合進行 AR 眼鏡的光學系統分析與最佳化。
您不可不知的同調光學調變技術
同調光學調變技術基本原理簡介。
5G 測試：資料輸送量
本應用說明描述了測試高資料速率的新挑戰，並提供使用 Keysight 協定研發工具組來解決這些挑戰的方案。
使用 E4980A/AL LCR 量測儀對無線充電系統中的線圈進行特性分析
本說明描述了 Keysight E4980A/AL 精密 LCR 量測儀如何適用於特性分析無線充電系統中最常用的元件 — 線圈。
電子測量儀器場地規劃要求
Keysight 測試與量測儀器現場準備計畫。
新型探測技術實現高靈敏度、寬動態範圍電流測量
是德科技的新型 N2820A 系列高靈敏度電流探棒，可滿足寬動態範圍高靈敏度電流測量的需求。
雙埠量測與 S 參數
探討網路分析儀的雙埠量測和 S 參數
實現高效率光子設計：大幅降低工時投入
RSoft MOST 透過靈活的指標和平行計算實現多參數最佳化自動化，從而簡化光子元件設計。它與 FDTD、RCWA 和 BPM 等工具集成，可加速工作流程並提升 AR/VR 光柵和抗反射結構等應用中的光學性能。
將示波器分段記憶體用於串列匯流排應用
了解如何使用示波器的分段記憶體，以擷取更長的時間範圍和更多串列封包，同時仍能以高取樣率進行數位化。
加速新一代非揮發性記憶體的開發
您可以加速下一代非揮發性記憶體的開發；CX3300 系列用於視覺化快速切換特性，B1500A 用於基本 IV、CV、脈衝 IV 和可靠性測試。
如何使用 Keysight N6790 系列最佳化電源供應器測試
Keysight N6790 系列電子負載模組為電源供應器測試提供無與倫比的效能和速度。無論是任何測試環境中的桌上型或系統應用，您都可以信賴其卓越的效能和功能所帶來的高品質和可靠性。
強化直流電源測試與分析的 10 個秘訣
這些系統的主要功用是為您的待測裝置提供純淨、準確的電源，確保您獲得正確的結果。我們提供的 10 個秘訣，可協助您實現此目標，讓您發揮電源供應器的更大價值。
如何確保USB Type-C™纜線和連接器的互通性與合規性
將 USB Type-C 整合到產品中，同時確保互通性與合規性，是一項挑戰。本量測簡報涵蓋 USB Type-C 纜線與連接器設計和測試解決方案。
功率轉換效率量測方法
準確量測功率轉換效率對於降低能耗至關重要，無論是傳統家用電器，還是先進的車輛電氣化和太陽能電網/光伏系統。
使用數位萬用電錶進行更簡單的直流電源測量
了解 Truevolt 系列數位萬用電錶 (DMM) 使用者可用的技術，以 DMM 進行更簡單的直流電源量測。
示波器探測的八個訣竅
在本應用說明中，您將找到八個實用提示，協助您為應用選擇正確的探棒，並改進示波器探測。
不斷演進的測試方法以實現 DDR4 相符性
DDR 記憶體設計必須更快，同時設計必須縮小尺寸並降低功耗。及早掌握設計洞察，以達成產品品質、互通性和上市時間目標。
尋找感興趣的產品?
