임의의 파형을 생성, 캡처 및 검증하는 방법

+ 고급 벤치탑 파형 및 함수 생성기

복잡한 파형 생성 및 검증

엔지니어는 복잡하고 과도적인 또는 이벤트 기반의 전기 신호를 재현하고 결과 파형이 의도한 동작과 일치하는지 확인해야 하는 경우가 많습니다. 신호에 표준 주기 파형으로 적절히 표현할 수 없는 펄스, 버스트, 전환 또는 사용자 정의 모양이 포함된 경우 테스트가 더욱 어려워집니다. 임의 파형 생성은 반복 가능한 자극을 제공하는 한편, 파형 캡처는 분석을 위해 시간에 따른 결과 전압을 기록합니다. 정확한 테스트를 위해서는 파형 모양, 진폭, 타이밍, 측정 범위, 샘플링 레이트, adquisición(수집) 지속 시간, 트리거 조건을 제어할 수 있어야 합니다. 이러한 설정에 따라 관심 있는 이벤트가 의미 있는 파형 검증을 지원하는 데 충분한 타이밍 및 진폭 정보와 함께 캡처되는지가 결정됩니다.

측정 워크플로는 필요한 임의 파형을 정의하고 이벤트를 관찰하는 데 필요한 획득 조건을 설정하는 것부터 시작됩니다. 신호 이벤트가 발생하기 전에 획득이 준비되며, 정의된 전압 임계값이 파형이 지정된 수준에도달할 때 트리거된 획득을 시작합니다. 그런 다음 캡처된 레코드를 시간 영역에서 검사하여 파형 모양, 진폭, 타이밍, 전환 및 기타 과도 동작을 평가할 수 있습니다. 엔지니어는 다른 파형 정의, 트리거 수준, 샘플링 레이트 또는 획득 창으로 테스트를 반복하여 변화하는 작동 조건을 평가할 수 있습니다. 이 접근 방식은 엔지니어가 이벤트를 지속적으로 모니터링하거나 획득을 시작해야 할 시점을 수동으로 결정할 필요 없이 사용자 정의 전기 신호에 대한 반복 가능한 파형 캡처 및 검증을 지원합니다.

임의 파형 생성 및 캡처 솔루션

반복 가능한 사용자 정의 자극을 생성하고 트리거된 디지타이징 측정을 구성하여 결과 파형 이벤트를 캡처함으로써 테스트를 수행합니다. 고급 벤치탑 파형 및 함수 생성기는 펄스, 버스트, 전환 및 기타 애플리케이션별 신호 모양을 재현하는 데 필요한 임의 파형 생성 기능을 제공합니다. 고급 벤치탑 디지털 멀티미터는 벤치 워크플로를 변경하지 않고도 파형을 캡처할 수 있는 디지타이징 및 레벨 트리거 기능을 추가합니다. 엔지니어는 정의된 이벤트가 발생할 때 DMM 디지타이저가 트리거된 획득을 시작하도록 전압 범위, 샘플링 레이트, 획득 지속 시간, 트리거 수준을 구성할 수 있습니다. 그런 다음 캡처된 레코드를 시간 영역에서 표시하고 분석하여 신호 모양, 진폭, 타이밍 및 과도 동작에 대한 파형을 검증할 수 있습니다. 이러한 계측기 클래스는 생성, 캡처 및 검증을 위한 일관된 설정을 유지하면서 다양한 파형 이벤트에 맞게 재구성할 수 있는 조정된 자극 및 측정 솔루션을 함께 제공합니다.

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