임의의 파형을 생성, 캡처 및 검증하는 방법

+ 고성능 탁상형 파형 및 함수 발생기

복잡한 파형 생성 및 검증

엔지니어들은 종종 복잡하거나 과도적인, 또는 이벤트 기반의 전기 신호를 재현하고, 그 결과로 생성된 파형이 의도된 동작과 일치하는지 확인해야 합니다. 신호에 표준 주기 파형으로는 적절하게 표현할 수 없는 펄스, 버스트, 전이 또는 사용자 정의 파형이 포함되어 있을 경우, 테스트는 더욱 어려워집니다. 임의 파형 생성은 반복 가능한 자극을 제공하는 반면, 파형 캡처는 분석을 위해 시간에 따른 결과 전압을 기록합니다. 정확한 테스트를 위해서는 파형 모양, 진폭, 타이밍, 측정 범위, 샘플링 속도, 획득 시간 및 트리거 조건을 제어할 수 있어야 합니다. 이러한 설정에 따라 관심 있는 이벤트가 의미 있는 파형 검증을 뒷받침할 수 있는 충분한 타이밍 및 진폭 정보와 함께 캡처되는지가 결정됩니다.

측정 워크플로는 먼저 필요한 임의 파형을 정의하고, 해당 이벤트를 관찰하는 데 필요한 수집 조건을 설정하는 것으로 시작됩니다. 신호 이벤트가 발생하기 전에 수집이 준비되며, 파형이 지정된 레벨에 도달하면 정의된 전압 임계값에 따라 트리거된 수집이 시작됩니다. 이후 캡처된 기록을 시간 영역에서 분석하여 파형 모양, 진폭, 타이밍, 전이 및 기타 과도 현상을 평가할 수 있습니다. 엔지니어는 다양한 파형 정의, 트리거 레벨, 샘플링 속도 또는 획득 창을 사용하여 테스트를 반복함으로써 변화하는 작동 조건을 평가할 수 있습니다. 이 접근 방식은 엔지니어가 이벤트를 지속적으로 모니터링하거나 획득 시작 시점을 수동으로 결정할 필요 없이, 맞춤형 전기 신호에 대한 반복 가능한 파형 캡처 및 검증을 지원합니다.

임의 파형 생성 및 캡처 솔루션

반복 가능한 사용자 정의 자극을 생성하고, 결과 파형 이벤트를 캡처하기 위해 트리거 방식의 디지털화 측정을 구성하여 테스트를 수행하십시오. 고급 벤치탑 파형 및 함수 발생기는 펄스, 버스트, 전이 및 기타 애플리케이션별 신호 형태를 재현하는 데 필요한 임의 파형 생성 기능을 제공합니다. 고급 벤치탑 디지털 멀티미터는 벤치 워크플로우를 변경하지 않고도 파형을 캡처할 수 있도록 디지털화 및 레벨 트리거 기능을 추가합니다. 엔지니어는 전압 범위, 샘플링 속도, 획득 시간 및 트리거 레벨을 구성하여, 정의된 이벤트가 발생하면 DMM 디지타이저가 트리거된 획득을 시작하도록 할 수 있습니다. 캡처된 기록은 시간 영역에서 표시 및 분석되어 신호 형태, 진폭, 타이밍 및 과도 현상에 대한 파형 검증이 가능합니다. 이러한 계측기 제품군은 함께 일관된 생성, 캡처 및 검증 설정을 유지하면서 다양한 파형 이벤트에 맞게 재구성할 수 있는 통합된 자극 및 측정 솔루션을 제공합니다.

견적 받기