저전력 IC의 돌입 전류를 특성 분석하는 방법

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넓은 다이내믹 레인지에서 동기화된 전원 켜기 과도 상태 포착

저전력 집적 회로(IC)의 전원 켜기 특성화에는 전원 켜기 전 상태에서 돌입 이벤트 및 후속 레일 정착까지의 변화를 분해할 수 있는 프로그래밍 가능 공급 장치, 전류 측정, 시간 영역 수집이 필요합니다. 공급 전류가 동시에 측정되는 동안 공급 장치가 피시험 장치(DUT)에 인가되며, 전압 및 전류 파형이 공통 시간 기준을 공유하도록 전원 켜기 이벤트에서 수집이 트리거됩니다.

이 측정은 디바이스가 저전류 전원 켜기 전 상태에서 훨씬 더 높은 돌입 수준으로 이동한 다음 작동 상태로 정착할 때 넓은 다이내믹 레인지에 걸쳐 공급 전류를 포착합니다. 고속 디지타이저는 과도 파형을 기록할 수 있으며, 전압 소스 및 전류 제한 설정은 인가된 레일을 제어합니다. 다중 레일 디바이스의 경우 추가 채널이 출력 전압 및 기타 공급 노드를 동시에 모니터링할 수 있습니다.

저전력 IC 돌입 전류 테스트 솔루션

공급 전류를 측정하고 전원 켜기 이벤트에서 과도 파형을 획득하는 동안 필요한 공급 전압을 DUT에 인가합니다. 키사이트 고속 모듈형 소스/측정 유닛(SMU)은 최대 15 MSa/s의 디지타이저 수집 기능을 제공하여 빠른 전류 변화의 시간 영역 포착을 지원합니다. 심리스 전류 측정 레인징은 지정된 수집 타이밍 동안 레인지 변경을 요구하지 않고 큰 전류 변화에 걸쳐 동기화된 측정을 지원합니다. 이 애플리케이션 예에서는 PZ2131A 모듈형 SMU가 5V를 인가하고 공급 전류를 측정하여 전원 켜기 전 100μA 미만에서 750mA를 초과하는 돌입 전류로의 변화를 보여줍니다.
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