Comment caractériser le courant d'appel d'un circuit intégré à faible consommation
Capturer les transitoires de mise sous tension synchronisées sur une large plage dynamique
La caractérisation à la mise sous tension d'un circuit intégré (CI) à faible consommation nécessite une alimentation programmable, une mesure du courant et une acquisition dans le domaine temporel capable de suivre l'évolution depuis l'état avant mise sous tension, en passant par l'événement de courant d'appel, jusqu'à la stabilisation ultérieure de la tension d'alimentation. L'alimentation est appliquée au dispositif sous test (DUT) tandis que le courant d'alimentation est mesuré simultanément ; l'acquisition est déclenchée au moment de la mise sous tension afin que les formes d'onde de tension et de courant partagent une référence temporelle commune.
La mesure permet de saisir le courant d'alimentation sur une large plage dynamique, à mesure que le dispositif passe d'un état de pré-alimentation à faible courant à un niveau de courant d'appel nettement plus élevé, avant de se stabiliser à son état de fonctionnement. Un numériseur haute vitesse peut enregistrer la forme d'onde transitoire, tandis que les réglages de la source de tension et de la limitation de courant contrôlent le rail d'alimentation appliqué. Pour les dispositifs à plusieurs rails, des canaux supplémentaires peuvent surveiller simultanément les tensions de sortie et d'autres nœuds d'alimentation.
Solution de test du courant d'appel pour circuits intégrés à faible consommation
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PZ2121A SMU de précision à haute vitesse (100 fA, 60 V, 15 MSa/s)
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PZ2100A Unité centrale SMU de précision haute densité (4 emplacements, 1U)
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Cas d'utilisation connexes
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