- 개요
- 모든 모델
- 지원
생산 테스트를 위한 간소화된 인서킷 테스트 솔루션
키사이트 고급 병렬 테스트 시스템은 린 제조 환경에 이상적인 컴팩트하고 비용 효율적인 설계로 필수적인 테스트 커버리지를 제공합니다. 이 고급 병렬 테스트 시스템은 바운더리 스캔, 플래시 프로그래밍 및 벡터리스 테스트 기능과 같은 주요 기능을 아날로그, 디지털 및 혼합 신호 PCB의 안정적이고 효율적인 테스트를 위해 구축된 간소화된 플랫폼에 통합합니다. 모듈형 아키텍처는 확장성 및 맞춤화를 지원하여 생산 요구 사항에 맞게 시스템을 조정할 수 있습니다. 직관적인 소프트웨어 도구와 원활한 자동화 인터페이스를 통해 테스트 개발을 간소화하고 생산 시간을 단축합니다. 오늘 인기 있는 구성에 대한 견적을 요청하십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.
내장된 디지털 및 아날로그 테스트
하나의 시스템에서 아날로그 및 디지털 측정을 수행하여 장비 오버헤드를 줄이고 포괄적인 혼합 신호 테스트를 가능하게 합니다.
벡터리스 테스트 기능
전원이 공급되는 디지털 벡터 없이 고밀도 PCB의 솔더링 및 배치 결함을 식별하여 테스트 설정을 간소화하고 개발 속도를 높입니다.
바운더리 스캔 통합
고밀도 PCB 설계에서 결함 커버리지를 향상하고 안정적인 연결성을 보장하기 위해 BGA와 같은 디지털 인터커넥트 및 미세 피치 부품을 쉽게 테스트할 수 있습니다.
소형 독립형 설계
공간 절약형 풋프린트는 외부 컨트롤러 없이 통합되어 공장 바닥 공간이 제한적인 제조업체에 이상적입니다.
-
System width
630 mm ~ 1200 mm
-
Maximum node count
512 ~ 3456
-
Maximum parallel testing
1 ~ 4
-
Fixture actuation
Press down
가장 인기 있는 구성
Medalist i1000D
Medalist i1000D 소형 풋프린트 인라인 및 오프라인 인서킷 시스템
Flexicore i1000 자동 인라인 병렬 ICT 시스템
서비스 및 지원
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
자주 묻는 질문
병렬 테스트 시스템은 여러 디바이스 또는 보드 어셈블리를 순차적으로가 아닌 동시에 테스트할 수 있도록 합니다. 이는 공유 테스트 리소스를 활용하고 유휴 시간을 단축하며 테스터 활용도를 최적화하여 처리량을 증가시킵니다. 이 접근 방식은 대량 생산에서 추가 테스트 스테이션 없이 병목 현상을 최소화하고 효율성을 향상시킵니다. 병렬 테스트는 또한 확장 가능한 구성을 지원하여 제조업체가 수요에 따라 용량을 조정할 수 있도록 합니다.
사이트별로 독립적인 테스트 계획을 격리하고 실행하는 기능을 통해 이러한 시스템은 동일한 플랫폼에서 다양한 제품 또는 테스트 요구 사항을 처리하는 데 유연성을 제공합니다. 엔지니어는 동시 기능, 인서킷 또는 파라메트릭 테스트를 수행하여 테스트 커버리지 및 정확성을 유지하면서 생산 주기를 단축할 수 있습니다.
병렬 테스트 아키텍처는 유사한 아키텍처를 가진 다중 보드 패널 또는 어셈블리를 테스트할 때 특히 유용합니다. 빠르고 반복 가능하며 신뢰할 수 있는 테스트가 중요한 가전제품, 자동차 ECU 및 통신 제품에 이상적입니다.
병렬 환경에서 테스트 무결성을 유지하는 것은 정확하고 신뢰할 수 있는 결과를 보장하는 데 필수적입니다. 이를 위해 잘 설계된 테스트 시스템은 각 UUT(테스트 대상 장치)에 대해 전기적 절연 및 독립적인 측정 채널을 사용합니다. 각 사이트는 전용 신호 스위칭, 전원 공급 및 측정 리소스를 사용하여 누화 또는 간섭을 방지하며 자율적으로 작동합니다. 소프트웨어 수준 관리는 중복이나 오류 없이 적절한 테스트 시퀀싱, 동기화 및 데이터 로깅을 보장합니다. 내장된 진단 및 실시간 모니터링은 각 채널의 상태를 지속적으로 평가하여 결과에 영향을 미칠 수 있는 이상을 식별합니다.
또한, 현장별 교정은 부하 또는 신호 조건에 관계없이 모든 UUT에 걸쳐 측정 정밀도를 보장합니다. 병렬 시스템은 또한 다른 채널에서 진행 중인 테스트를 방해하지 않고 오류가 발생한 장치를 격리하는 페일 세이프 메커니즘 및 오류 처리를 지원합니다. 이러한 아키텍처는 병렬 테스트의 속도 및 효율성 이점이 테스트 결과의 품질, 반복성 또는 추적성을 저해하지 않도록 보장합니다.
병렬 테스트 시스템은 다양한 테스트 방법론을 지원하므로 전자 어셈블리의 포괄적인 검증에 적합합니다. 일반적으로 지원되는 테스트에는 인서킷 테스트, 기능 테스트, 파라메트릭 측정, 연속성 검사 및 아날로그/디지털 신호 검증이 포함됩니다. 이 시스템은 또한 임베디드 부품에 대한 바운더리 스캔 테스트 및 전원 켜기 자체 테스트를 실행할 수 있습니다. 각 채널은 독립적으로 구성할 수 있어 다양한 보드 설계 또는 개정판에 대해 개별 테스트 시퀀스를 동시에 실행할 수 있습니다.
또한 이 시스템은 고속 디지털 신호, 혼합 신호 회로, USB, CAN 또는 이더넷과 같은 통신 인터페이스를 처리할 수 있습니다. 고급 신호 스위칭 및 계측기 통합을 통해 전력 소비, 클록 주파수 및 타이밍 파라미터를 검증할 수 있습니다. 이 플랫폼의 유연성은 오실로스코프 또는 스펙트럼 분석기와 같은 외부 계측기와의 통합을 통해 확장된 테스트 기능을 제공합니다.
이 시스템은 자동차, 통신, 가전제품 및 산업 제어 애플리케이션을 포함하여 엄격하고 반복 가능한 테스트를 요구하는 산업에 이상적입니다.
병렬 테스트 전략을 구현하면 신중하게 관리해야 할 몇 가지 복잡성이 발생합니다. 주요 과제 중 하나는 여러 활성 테스트 사이트 간의 신호 격리를 보장하고 간섭을 피하는 것입니다. 이를 위해서는 신중한 하드웨어 설계, 차폐 및 접지 방식이 필요합니다. 또 다른 문제는 여러 테스트 지점에서 증가하는 데이터 흐름을 관리하는 것입니다. 이는 제대로 설계되지 않으면 기존 데이터 처리 시스템에 과부하를 줄 수 있습니다.
이를 해결하기 위해 효율적인 테스트 시퀀싱 소프트웨어와 고성능 컴퓨팅 리소스가 자주 사용됩니다. 엔지니어는 동시 실행, 조건부 분기 및 사이트별 테스트 계획을 지원하는 스크립트와 로직을 생성해야 하므로 테스트 개발이 더욱 복잡해집니다. 픽스처 설계 또한 중요합니다. 픽스처 공차가 좋지 않으면 접촉 불량 또는 잘못된 결과가 발생할 수 있습니다. 다중 사이트 환경에서 오류를 디버깅하는 것은 문제가 특정 채널에만 국한될 수 있으므로 더 어려울 수 있습니다. 철저한 검증, 강력한 진단 및 실시간 모니터링 도구는 안정적인 병렬 테스트 작업을 성공적으로 배포하고 유지하는 데 필수적입니다.