- 개요
- 모든 모델
- 지원
보급형 오실로스코프의 향상된 기능
요구사항에 맞는 키사이트 Essential 오실로스코프를 구성해 보십시오. 가장 합리적인 가격의 XR1 클래스에도 6개의 계측기가 하나로 통합되어 있으며 자동 측정 기능이 제공됩니다. XR3 클래스는 일반 목적의 다른 오실로스코프보다 4배 높은 해상도와 절반 수준의 노이즈 플로어를 갖춘 14비트 ADC를 탑재하고 있습니다. 벤치탑 및 컴팩트한 1U 랙 마운트 형식으로 제공되며, 1U 모델은 수백 개의 아날로그 채널에 걸쳐 동기화된 멀티 오실로스코프 측정을 지원합니다. 키사이트 Essential 오실로스코프에는 마스크 테스트, 고속 푸리에 변환(FFT), 프로토콜 트리거링 및 디코딩을 위한 자동 테스트 소프트웨어뿐만 아니라 히스토그램과 보드 선도가 포함되어 있습니다. 인기 있는 구성 중 하나를 선택하거나 사용 분야에 맞게 직접 구성해 보십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인해 보십시오.
6가지 장비가 하나로
키사이트 Essential 오실로스코프는 오실로스코프, 웨이브젠, 프로토콜 분석기, 디지털 전압계, 주파수 카운터 및 주파수 응답 분석기를 하나의 장비에 통합합니다.
직렬 버스 분석
I2C, UART/RS232, SPI, CAN, LIN과 같은 일반적인 직렬 버스에서 트리거링 및 디코딩을 지원하여 여러 프로토콜에서 정확한 신호 분석 및 효율적인 문제 해결을 보장합니다.
자동 측정
주파수, 진폭, 상승 시간과 같은 주요 파라미터를 수동으로 측정 설정할 필요 없이 캡처할 수 있도록 사전 프로그래밍된 기능이 제공됩니다.
작고 휴대하기 편리함
작고 가벼운 Essential 오실로스코프를 사용하면 테스트 장비를 휴대하여 필요한 모든 곳에서 측정을 수행할 수 있습니다.
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Maximum bandwidth
70 MHz ~ 1 GHz
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Analog channels
2 ~ 4
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Digital channels
0 ~ 16
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Maximum sample rate
2 GSa/s ~ 5 GSa/s
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Maximum memory depth
1 Mpts ~ 100 Mpts
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Display size
3.12 inch ~ 10.1 inch
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ADC resolution
8 bits ~ 14 bits
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Brands included
1000 Series, 2000 Series, 3000 Series, HD3 Series, XR3 Series
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Multi-scope synchronization
Varies
가장 인기 있는 구성
XR1 클래스 오실로스코프, 내장 파형 발생기 포함
내장 파형 발생기가 있는 XR3 클래스 혼합 신호 오실로스코프
XR3 클래스 오실로스코프, 멀티 오실로스코프 동기화를 지원하는 1U 랙 마운트형
Essential 오실로스코프 사용 사례 살펴보기
Essential 오실로스코프는 다양한 산업 분야에서 광범위한 측정을 지원합니다. 모든 기능을 확인해 보십시오.
가전
고정밀 전자 장치 디버깅 방법
Aerospace & Defense
동기화된 멀티스코프 랙을 사용하여 A&D 하위 시스템을 테스트하는 방법
동기화된 단일 랙 내에서 타이밍이 중요한 항공우주 및 방위 산업용 하위 시스템 신호들을 상호 연관시킵니다.
제조
합격/불합격 테스트를 자동화하는 방법
채널 밀도가 높은 생산 테스트 지점 전반에 걸쳐 반복 가능한 신호 품질 검사를 자동화합니다.
범용 전자 장치
FRA를 사용하여 필터 및 증폭기 응답을 검증하는 방법
내장된 파형 생성기로 아날로그 필터 및 증폭기 주파수 응답을 측정하십시오.
범용 전자 장치
전원 레일 리플 측정 방법
측정으로 인한 왜곡을 낮게 유지하는 방법을 알아보십시오.
서비스 및 지원
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
자주 묻는 질문
최신 오실로스코프에는 자동 측정, 고속 푸리에 변환(FFT) 분석 및 트리거링 옵션과 같은 기능이 포함되어 있습니다. 이러한 기능은 오실로스코프의 기능을 향상시켜 광범위한 애플리케이션을 위한 강력한 도구로 만듭니다. 다음은 이러한 오실로스코프 기능에 대한 세부 정보입니다.
자동 측정
주파수, 진폭, 상승 시간, 하강 시간 등 파형의 다양한 파라미터를 자동으로 측정합니다. 이 기능은 일반적인 파라미터 분석 속도를 높이고 수동 측정에서 인적 오류 가능성을 줄여줍니다.
고속 푸리에 변환(FFT)
FFT 분석을 통해 오실로스코프는 시간 영역 신호를 주파수 영역 구성 요소로 변환할 수 있습니다. 이는 신호의 주파수 내용을 식별하고, 노이즈 및 고조파와 같은 문제를 진단하며, 스펙트럼 분석을 수행하는 데 특히 유용합니다.
트리거 옵션
트리거링을 통해 사용자는 신호 내의 특정 이벤트를 캡처할 수 있습니다. 트리거는 펄스 폭, 논리 패턴, 런트 펄스 등과 같은 조건에 따라 설정할 수 있습니다. 이는 복잡한 신호 동작을 분리하고 분석하는 데 도움이 됩니다.
오실로스코프의 파형 업데이트 속도는 새로운 파형 데이터를 새로 고치거나 캡처하여 화면에 표시하는 빈도를 의미합니다. 높은 파형 업데이트 속도는 과도 이벤트, 글리치 또는 간헐적 신호와 같은 동적이거나 빠르게 변화하는 신호를 분석할 때 특히 중요합니다. 파형 업데이트 속도가 충분히 빠르지 않으면 오실로스코프가 이러한 신호를 캡처하지 못하여 중요한 정보를 놓치고 부정확한 분석으로 이어질 수 있습니다.
파형 업데이트 속도는 아날로그 및 디지털 구성 요소 간의 복잡한 상호 작용이 있는 임베디드 시스템 개발, 고주파 스위칭 및 과도 동작을 하는 전력 전자 장치 및 전원 공급 장치, 그리고 개발 및 생산 중 장치 성능을 검증하기 위한 가전제품과 같은 애플리케이션에서 신호의 실시간 모니터링에도 중요합니다.
아날로그-디지털 변환기(ADC)는 오실로스코프의 핵심 구성 요소입니다. 이는 신호를 캡처하고 분석하는 오실로스코프의 정확도, 정밀도 및 성능을 결정합니다. ADC가 갖는 비트 수, 즉 비트 심도는 오실로스코프의 수직 해상도를 결정하며, 이는 전압의 작은 변화를 얼마나 정확하게 나타낼 수 있는지를 보여줍니다. ADC의 핵심 기능은 전압 파형과 같은 아날로그 신호를 샘플링하여 오실로스코프의 중앙 처리 장치(CPU)가 이해하는 일련의 디지털 값으로 변환하는 것입니다. 오실로스코프의 ADC는 아날로그 신호를 이산 시간 간격으로 샘플링하고, 이를 디지털 샘플로 변환한 다음, 디스플레이에 파형의 시각적 표현을 재구성합니다.
ADC의 해상도 또는 비트 심도는 오실로스코프가 신호의 서로 다른 전압 레벨을 얼마나 정밀하게 구분할 수 있는지를 결정합니다. 예를 들어, 8비트 ADC는 신호의 진폭 범위를 256개 레벨로 나누는 반면, 14비트 ADC는 16,384개의 이산 전압 레벨로 신호를 나타낼 수 있습니다. 이러한 더 미세한 해상도는 항공 우주 및 방위 레이더, 소나 및 원격 측정 시스템, 전력 전자 DC-DC 컨버터 및 스위치 모드 전원 공급 장치, 또는 자기 공명 영상(MRI) 또는 컴퓨터 단층 촬영(CT) 스캔과 같은 고정밀 애플리케이션에서 특히 유용합니다.
1U 랙 장착형 1 GHz 오실로스코프는 자동화된 테스트 시스템, 검증 연구소, 생산 환경에서 전자 신호를 캡처, 분석 및 디버깅하는 데 사용됩니다. 콤팩트한 랙 장착형 설계를 통해 엔지니어는 공간이 제한된 테스트 설정에 오실로스코프 측정 기능을 추가하는 동시에 장비를 체계적으로 정리하여 쉽게 액세스할 수 있습니다.
1 GHz 대역폭을 갖춘 이 오실로스코프는 클록 타이밍, 전력 전자 장치 스위칭, 직렬 통신 및 과도 현상 모니터링에 적합합니다. 항공우주 및 방위산업 검증, 합격/불합격 제조 테스트, 고에너지 물리학 연구, 반도체 테스트 및 디버깅 등의 애플리케이션에서 사용됩니다.
랙 장착형 오실로스코프는 반복 가능한 측정, 원격 작동 또는 기타 테스트 장비와의 통합이 필요할 때 특히 유용합니다. 엔지니어가 신호 무결성 문제를 식별하고, 디바이스 성능을 검증하며, 자동화된 기능 테스트, 시스템 수준 검증, 전자 장비의 장기 모니터링을 지원하는 데 도움이 됩니다.