LightTools Backlight Pattern Optimization(BPO)를 활용한 Light Guide Plate 설계 자동화

최신 디스플레이는 균일한 조도, 높은 명암비, 향상된 에너지 효율을 구현하기 위해 더욱 복잡한 백라이트 설계를 요구합니다.

산란광 스캐너

시야 내부 및 외부의 원치 않는 복사로 인해 발생하는 산란광은 이미징 성능을 크게 저하시키며 고스트 이미지, 플레어 및 베일링 글레어를 유발합니다. 산란광 스캐너(SLS)는 글레어 확산 함수를 생성하고 스캔 각도에 대한 피크 조도 또는 전력을 특성화하여 이러한 효과를 분석하기 위한 포괄적인 방법을 제공합니다.

LightTools 2026 신기능 알아보기

LightTools 2026은 시각화, 광선 추적 성능, 산란광 분석, AR 도파관 설계, 메타 광학 모델링 및 CAD 상호 운용성 전반에 걸쳐 상당한 개선 사항을 제공합니다. 이러한 업데이트를 통해 모델링 정확도가 향상되고 시뮬레이션 워크플로가 가속화되며 더 넓은 범위의 광학 설계 애플리케이션을 지원합니다.

RSoft BSDF 및 LightTools 연계를 통한 AR 웨이브가이드 설계

Keysight RSoft BSDF Utilities는 정밀 전자기 시뮬레이션과 시스템 수준의 광학 모델링을 연결하는 핵심 솔루션을 제공합니다.

Light Guide Designer를 통한 자동차용 라이트 가이드 설계 최적화

라이트 가이드는 헤드램프, 주간 주행등(DRL), 실내 앰비언트 라이팅, 웰컴 램프 등 현대 자동차 조명 분야에서 핵심적인 기술로 자리 잡았습니다.

N4377A 광파 검출기

N4377A 라이트웨이브 검출기는 USB 전원 공급 방식의 광-전기 변환기로, 광 파워 미터 기능이 내장되어 있습니다. 이는 포토닉스 분야에서 주파수 도메인 애플리케이션을 가능하게 합니다.

광파 솔루션 플랫폼

본 가이드는 옵션 및 액세서리를 포함하여 키사이트 816xB 광 메인프레임 및 모듈 제품군에 대한 구성 세부 정보를 제공합니다.

SCPI를 사용한 라이트웨이브 컴포넌트 분석기 자동화

본 백서에서는 신규 사용자가 빠르게 시작할 수 있도록 라이트웨이브 컴포넌트 분석기(LCA)를 자동화하기 위한 사용 가능한 인터페이스 및 SCPI 명령을 요약했습니다.

광파 테스트 및 측정 장비, 청소 절차

광파 테스트 및 측정 장비, 청소 절차.

고속 광파 부품 분석

전기 신호를 광 신호로, 광 신호를 전기 신호로 변환하는 광섬유 트랜스폰더의 주파수 의존성을 측정하기 위한 원리 및 방법이 설명되어 있습니다.

키사이트 광파 부품 분석기

키사이트 라이트웨이브 컴포넌트 분석기는 교정된 S-파라미터 측정 및 고주파 분석을 통해 광학 및 광자 부품의 정밀한 특성화를 제공합니다.

LPO에 대한 Lightwave 매거진 웹 세미나

선형 플러그형 광학 장치 – AI 및 하이퍼스케일 데이터 센터를 위한 저전력 광학 인터커넥트.

N4372E 광파 컴포넌트 분석기, 110 GHz

새로운 N4372E는 키사이트의 LCA 제품군을 확장하여 최대 110GHz의 광학 송신기(TX) 및 수신기(RX)에 대한 고주파 파라메트릭 테스트를 지원합니다. 이것은 광전자 S-파라미터 측정을 위한 벡터 네트워크 분석기입니다.

광 부품 분석기를 이용한 이득 압축 측정

키사이트의 Lightwave Component Analyzer를 사용하여 이득 압축 측정의 단계별 지침과 원리를 확인하십시오.

N4378A 220 GHz 광파 부품 분석기

N4378A 220GHz 광파 부품 분석기(1.6T/3.2T 광 트랜시버 부품 테스트용 단일 모드 LCA)의 사양 및 주문 지침을 포함한 기술 개요.

26.5 GHz 멀티모드 광파 부품 분석기

N4376B는 광 데이터 통신 시스템에 레이저, 변조기 및 PIN 검출기와 같은 핵심 전기-광학 부품에 대한 빠르고, 추적 가능하며, 정확하고 반복 가능한 특성화를 제공합니다.

8163B 라이트웨이브 멀티미터, 8164B 측정 시스템, 8166B 멀티채널

각 페이지의 주문 정보를 업데이트하고 제목을 변경합니다. 또한 AXIe, LXI 및 PXI 표준을 제거합니다.

Keysight - Lightwave magazine Webinar

200G 직렬 인터페이스로 가는 길 - John Calvin & Richard Mellitz 1:00:00 질의응답 OIF-CEI 및 IEEE 표준과 관련된 새로운 데이터센터 전기 인터커넥트의 복잡성과 배포 및 검증 과제를 살펴보십시오. 이 웨비나에서는 실용적인 테스트 방법으로 사양을 구현할 수 있도록 시뮬레이션에서 물리적 검증으로의 진행 상황을 다루고 채널 작동 마진 접근 방식과 물리 계층 검증 노력 간의 경계 계층에 대해 논의합니다. 고속 인터커넥트 분야의 선두 주자인 키사이트테크놀로지스와 Samtec은 현재 112Gbps의 과제와 224Gbps 이상의 지속적인 개발의 중요성을 다룹니다. 224Gbps, OIFCEI, IEEE802.3, 800G, 800Gbps, designtest

26.5 GHz 싱글모드 광섬유 광파 부품 분석기

10Gbit/s, 40Gbit/s 및 100Gbit/s 전송 시스템을 위한 광 송신기, 광 변조기, 포토다이오드, 광 수신기 및 집적 포토닉스 디바이스와 같은 광전 부품의 파라메트릭 테스트를 위한 26.5GHz 단일 모드 파이버 광파 부품 분석기.

라이트웨이브 카탈로그: 테스트 및 측정 네트워크와 데이터 센터

고성능 광 T&M 솔루션 카탈로그는 코어 광섬유 네트워크 및 데이터 센터를 위한 테스트 애플리케이션 및 테스트 장비에 대한 정보를 제공합니다.