Stray Light Scanner
기술 개요
Stray Light Scanner(SLS)는 광학 및 이미징 시스템에서 발생하는 산란광(Stray Light) 현상을 정밀하게 분석하기 위한 고성능 솔루션입니다.
외부 광원을 다양한 시야각(Field Angle)에서 스캔하고, 반사·레이 스플리팅·배럴/스페이서 간 산란 등 복합적인 광 경로를 평가하여, 설계 단계에서 놓치기 쉬운 stray light 영향을 정량적으로 파악할 수 있습니다.
SLS는 ImSym과 결합될 경우 더욱 강력한 플랫폼으로 확장됩니다.
가상 카메라 시스템 시뮬레이션, 팀 간 협업 강화, 설계–검증–출시까지의 전체 개발 사이클 단축을 지원하여 고객의 제품 개발 효율을 크게 향상시킵니다.