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3D Interconnect Designerは、チップレット、積層ダイ、パッケージ、PCBなど、あらゆる高度な相互接続構造に対応する柔軟なモデリングおよび最適化環境を提供します。
25種類以上のXシリーズアプリケーションを使用して、ワイヤレス、航空宇宙/防衛、EMI、位相ノイズの各分野で信号の解析、復調、トラブルシューティングを行います。
追加のメモリとストレージにより、これらの強化されたNPBは、キーサイトのAIセキュリティおよびパフォーマンス監視ソフトウェアとAIスタックを実行します。
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キーサイトは、光部品アナライザ、コヒーレント伝送テスタ、およびフォトニック・テスト・パーツについて、7つの機能クラスを提供しています。
光特性評価および解析用の高精度測定器
複雑な変調方式の光トランシーバー検証用コヒーレント試験ソリューション
スケーラブルで自動化された光検証のためのフォトニックテストツール
キーサイトのフォトニックコンポーネントアナライザには、XP1-class、XP2-class、XP3-class、XP4-class、XP5-class、XP6-classがあります。これらは、広範な光コンポーネントおよびシステムにわたる複雑な特性評価と検証をサポートします。精度、確度、柔軟性を追求して設計されたこれらのソリューションは、光性能に関する重要な知見を明らかにするのに役立ち、お客様の設計が今日の厳しい要件を満たすことを保証します。お客様のアプリケーションに最適なフォトニックコンポーネントアナライザを見つけるために、当社の幅広い製品をご覧ください。
キーサイトのコヒーレント伝送テスト製品には、XP7-class光変調アナライザとモジュラーオプションが含まれます。これらにより、長距離光送信機を特性評価し、高速データセンターネットワークで使用されるコヒーレントトランシーバおよびシステムを検証できます。変調された光信号を高忠実度で測定し、業界標準への準拠のために、エラーベクトルマグニチュード(EVM)、Qファクタ、位相誤差などの性能指標を分析します。当社のPro ベンチトップ オシロスコープに基づく高周波アナライザ、またはさまざまな帯域幅とチャネル構成で利用可能なモジュラーコヒーレント伝送テストソリューションなど、幅広いソリューションから選択できます。これらは、お客様のアプリケーション要件に合わせて提供されます。当社の幅広いポートフォリオをご覧になり、開発、検証、または製造テストのニーズに合った適切な構成を見つけてください。
キーサイトのフォトニック・テスト・パーツ 幅広い光アプリケーション向けに信頼性が高く効率的かつ拡張性のあるテストシステムの開発を支援フォトニック・テスト・パーツ 。次世代コンポーネントの開発から複雑なネットワークの検証まで、当社の包括的な製品ポートフォリオはあらゆる段階で精密かつ高性能なテストを実現します。現在および将来の要件を満たす光テスト環境を構築するためにフォトニック・テスト・パーツ 幅広いフォトニック・テスト・パーツ をご覧ください。
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半導体
ウェハーレベルおよびチップレベルのテスト環境で、シリコンフォトニクスデバイスの電気光学Sパラメータを特性評価します。
自動車
高い繰り返し精度で、シリコンフォトニクスデバイスの特性評価のためのウェハーレベル光パワー掃引を自動化します。
有線通信
EVMとBERを解析して光送信機の性能を特性評価し、高速コヒーレントトランシーバー設計を検証します。
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
フォトニクスおよび光テストソリューションの選択は、検証レベル(コンポーネント、モジュール、サブシステム、またはフルリンク)と、R&D、システム検証、製造などの開発フェーズを特定することから始まります。コンポーネントのワークフローでは、波長精度、光パワー、挿入損失、スペクトル応答が重視される一方、システムのワークフローでは、変調品質、ノイズ耐性、伝送劣化に焦点が当てられます。データレート、変調フォーマット、チャネル数、自動化要件が、ソリューションのニーズをさらに明確にします。エンジニアは通常、開発、検証、または生産の各段階での性能リスクに合わせて、測定機能と校正の厳密さを調整したテストソリューションを選択します。
光コンポーネントアナライザは、レーザー、変調器、フィルター、フォトニック集積回路などの個々の光素子を、波長依存性、損失、偏波効果、安定性を測定することで特性評価するために使用されます。
コヒーレント伝送テストシステムは、複雑な変調フォーマットを使用してエンドツーエンドの光リンクを検証し、現実的な伝送条件下でEVM、Qファクタ、BER、OSNRなどの性能指標を評価します。
フォトニクス試験部品には、光パワーメータ、減衰器、スイッチ、校正済みリファレンスが含まれ、ラボおよび製造環境で信号レベルとルーティングを制御することで、正確で再現性のあるセットアップをサポートします。
フォトニクスおよび光テストでは、コンポーネントとシステム全体における信号の精度、品質、堅牢性を定義するパラメータを測定します。コンポーネントレベルでは、光パワー、波長精度、スペクトル形状、挿入損失、リターンロス、偏波効果などの一般的な測定が含まれます。高速およびコヒーレントシステムの場合、テストはエラーベクトル振幅 (EVM)、Qファクタ、ビットエラーレート (BER)、光信号対ノイズ比 (OSNR)、位相ノイズ、タイミング関連の劣化にまで及びます。これらの測定は、エンジニアが開発から生産まで、変調忠実度、ノイズマージン、および性能仕様への準拠を定量化するのに役立ちます。
高速データセンターおよびコヒーレント光通信の検証において、フォトニクスおよび光テストシステムは、実際の伝送条件をエミュレートしながら性能限界を測定します。エンジニアはこれらを使用して、400G、800G、およびそれ以上の新しい高速レートで動作するトランシーバー、ラインカード、光エンジンを検証します。テストは、変調精度、ノイズおよび分散に対する耐性、ネットワーク要素との相互運用性の検証に焦点を当てています。これらのシステムにより、ハイパースケールおよび長距離光ネットワークへの展開前に、ストレス信号テスト、マージン解析、およびコンプライアンス検証が可能になります。
フォトニクスおよび光測定における精度は、トレーサブルな校正、安定した信号源、および制御されたテストセットアップに依存します。エンジニアは、校正済み光リファレンスの使用、経路損失の補償、および反射とドリフトを最小限に抑えるためのクリーンな光コネクタの維持により、信頼性を確保します。信号品質は、適切な帯域幅選択、クロックアライメント、および光と電気インターフェース全体でのノイズ管理によって維持されます。定期的な検証ルーチンと自動校正ワークフローは、ラボ、生産ライン、および長期的な製品開発サイクル全体で測定の一貫性を維持するのに役立ちます。