カスタマイズされたコヒーレント着脱可能モジュール検証

S1205Aソリューションは、ライン側の最大75 Gbaudのコヒーレント変調を使用して、50GAUI-1/100GAUI-2/200GAUI-4/400GAUI-8のクライアントインターフェースとトランシーバのテスト用にカスタマイズされています。 例えば、QSFP-DD着脱可能モジュールは、OIF 400ZR、IEEE 400GBASE-ZR、400ZR+MSA仕様に対してテストが可能です。

400ZR着脱可能モジュール向け完全なテストソリューション

キーサイトS1205Aは、400ZR pluggableを検証するための包括的なテストソリューションで、以下のテストをカバーしています:

  • 光トランスミッターテスト(EVM、搬送波周波数オフセットI/Q 、偏波スキュー、OSRN、Rinなど)
  • ファンクションテスト(モジュールPHYストレステスト, CMISテスト、診断モニタリング)

このソリューションは、400ZRマルチベンダー相互運用性テスト用にカスタマイズされており、完全に自動生産用に簡素化することができます。

完全な400ZR着脱可能モジュール・テスト・ソリューション
N4391B 光変調アナライザ

近日予定の800ZRおよび800LRトランシーバのテスト

次世代800Gコヒーレントリンクの標準化活動が進行中であり、シンボルレートを2倍して120GBdにすることを提案しています。 キーサイトは、すでにこれらの技術を設計し検証するツールを提供しています。 例えば、G800GE-02とN4391B光変調アナライザを組み合わせることで、Cバンド(800ZR)およびOバンド(800LR)での400G/800Gコヒーレント着脱可能モジュールとコンポーネントをテストすることができます。

機能を拡張

生産性を向上させ製品開発を加速させるため、今すぐ適切なアクセサリでお使いのハードウェアを組み合わせて機能を向上させましょう。

N7731C 2チャネル 1x4 光スイッチ

  • 再現性: ±0.007 dB、±0.005 dB(代表値)(1310 nm、1550 nm)
  • ライフタイム:10億サイクル以上
  • 1250 nm~1650 nmの動作波長範囲
  • FC/APCコネクタインタフェース:アングルド、ナロー・キー

N7761A 1チャネル可変光アッテネータ・モジュール・ビュレット・ポイント:

  • セトリング時間:20 msの減衰セトリング時間、100 msのパワー
  • 0.1~1000 dB/sの減衰遷移速度(選択可能)
  • +23 dBmの入力パワー
  • ≦1.2 dBの挿入損失

光トランシーバ・テスト・ソリューションの注目のリソース

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