お探しのページはこちらでしょか. その他の検索結果:

高スループット1 nsパルスドIVメモリ・テスト・ソリューション

Keysight NX5730A 高スループット 1 ns パルスIVメモリ・テスト・ソリューションは、高速なパルスIV測定と高精度なDC測定を実現するよう設計されています。

製品画像

  • 最大測定ピン数

    2

  • 最小電流測定分解能

    1 pA

  • 最小電流測定分解能

    N/A

  • 追加機能

    N/A

sortDropdown icon View Technical Specifications

お見積りはこちら

同梱品をご確認いただき、キーサイトが提供する利用可能なアップグレードオプションをご覧ください。

ハイライト

  • STT‑MRAM（スピン注入磁化反転型MRAM）などの新世代メモリに対し、DC測定から高速パルスIV測定まで対応する、高精度かつ高速なウェハレベル特性評価
  • 最大1 nsパルスまでの高精度・高速パルス電圧をSTT‑MRAM用磁気トンネル接合（MTJ）に印加し、MTJの抵抗を高精度に測定
  • MTJの代表的な特性評価試験を、1台のメモリ・テスト・ソリューションで実行可能
  • ビット・エラー・レート・テスト(BERT)などのサイクルテストを10～100倍高速化
  • 書き込みパルス中のMTJスイッチング波形を明確に捕捉し、可視化
  • キーサイトの技術専門知識の詰まった1 ns IV 専用のメモリ・テスト・ソリューション
内容
  • システムキャビネット
  • PIVドライバユニット
  • PIV レシーバユニット

サービスとサポート