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データセンターのトランシーバーのテスト
当社は、お客様のトランシーバーのイノベーションにおけるテストを加速し、コストを削減します。
データセンター事業者は、チャネル容量を増やし、品質と相互運用性を保証し、テスト時間とコストを削減する次世代トランシーバーを導入することで、100GEから400GEへのシームレスな移行を確実にすることができます。高度な変調とコーディング、特性評価とコンプライアンス・テスト、およびテスト効率が、これらのテスト課題を解決します。
データセンターにおける400GEは目前に迫っています。キーサイトは、お客様が実装上の課題を克服し、より迅速に目標を達成できるよう支援します。
課題1：チャネル容量の増加
データセンターにおける100GEから400GEへの移行は、進化ではなく革命です。光トランシーバーは、400GEの速度を達成するために高度な信号変調および符号化技術を使用します。これらの技術は、トランシーバーメーカーにとって新たなテスト課題を生み出します。当社は、高度な変調および符号化技術を使用して、お客様の400GEデータセンター実装における課題に対処するお手伝いをいたします。
課題2：品質と相互運用性の確保
データセンター事業者は、データセンターネットワークで100GEと400GEの両方をサポートする必要があります。欠陥のあるトランシーバーによるネットワークのダウンタイムは許されません。新しいトランシーバーテクノロジーは、ネットワークに挿入される前に、業界仕様に準拠し、シームレスな互換性を確保するために徹底的にテストされる必要があります。
ネットワークが高速化し、複雑になるほど、特性評価とコンプライアンス・テストはより困難で時間のかかるものになります。当社は、光コンポーネントおよびトランシーバー・メーカーと協力し、その設計が最新の業界仕様に厳密に準拠していることを保証しています。データセンターでは100GEと400GEのサポートが共存し、異なるベンダーのトランシーバー間、および他のネットワーク・コンポーネントとの相互運用性が重要です。
課題3：テスト時間の短縮、コストの削減
光トランシーバーのコストは、データセンターが100GEから400GEへ移行する際の主要なコスト要因です。これらのトランシーバーの広範なデータレートをより効率的にテストすることで、設計革新が加速され、コストが削減されます。トランシーバーのコストは、設計の複雑さと光部品の数に直接比例します。テスト時間も重要であり、トランシーバーの全体的なコストに影響します。
次世代トランシーバーのテスト効率は、ポートあたりのコストを削減し、消費電力の削減とフットプリントの小型化を実現します。このプロセスは、トランシーバーコンポーネントの設計から研究開発フェーズで始まり、製造テストに至るまで、トランシーバーの設計と検証へと続きます。当社がお客様のトランシーバーテスト効率の向上を支援します。
次のテスト課題 – トラフィック負荷
データセンターのクラウドサービス、4Kビデオ、5Gモバイルネットワークサービスが急速に普及する中、多くのネットワーク事業者は、28 Gb/s (NRZ) シグナリングから、より高速な56 Gb/s (PAM4) 電気インターフェースへと移行しており、400GEへの足がかりとして、50GE、100GE、200GEの速度を実装しています。
IxiaのK400 QSFP-DDロードモジュールは、これらすべてのテクノロジーを検証できる唯一の製品であり、400GEポート・ファンアウト・ケーブルを使用して、400GE、200GE、100GE、または50GEのマルチスピードまたはシングルスピード・デバイスをテストするための将来性のあるプラットフォームをユーザーに提供します。
PathWaveがお客様の開発ワークフローを加速します
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