Como medir a capacitância e a relação corrente-tensão (IV)

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Meça o CV e o IV com precisão

Para determinar se as células de bateria de íons de lítio (Li-ion) recém-formadas em veículos elétricos (VEs) apresentam um comportamento de autodescarga aceitável, é necessário um método de medição potenciostático. Uma fonte de corrente contínua (CC) de baixo ruído e muito estável é ajustada para corresponder à tensão em circuito aberto (OCV) da célula. A fonte de CC se conecta à célula por meio de um microamperímetro, e a corrente que flui entre a fonte de CC e a célula é medida. Quando a célula se autodescarrega, a fonte de CC assume o controle, fornecendo corrente para manter a célula em uma tensão e um estado de carga constantes.

À medida que a fonte de corrente contínua (CC) atinge o equilíbrio com a célula, a corrente de autodescarga passa de uma origem interna para uma fornecida externamente pela fonte de CC. A corrente de autodescarga é medida por meio do microamperímetro. O método de medição potenciostática requer um analisador de autodescarga capaz de ajustar rapidamente a tensão para um valor dentro de +/- 5 µV da tensão em circuito aberto (OCV) da célula antes de ser aplicada. Esse processo minimiza a introdução de quaisquer novas alterações de carga ou descarga, limitando ao mínimo o tempo de estabilização da medição. A tensão aplicada à célula também deve ser estável para minimizar o ruído de corrente contínuo na medição da corrente de autodescarga.

Solução para medição de capacitância e corrente-tensão

Testes precisos de capacitância-tensão e corrente-tensão exigem conexões corretas de quatro terminais, um caminho de retorno estável e compensação da impedância residual do cabo e da admitância parasita. A solução combina um analisador de dispositivos semicondutores com recursos de fonte/medição e medição de capacitância, comutação automatizada entre os caminhos CV e IV e suporte para correção de circuito aberto, curto-circuito e carga em configurações blindadas de dois terminais. Ela auxilia na configuração das medições por meio de uma biblioteca de aplicativos gráficos, com resultados apresentados em gráficos ou listas, ao mesmo tempo em que oferece suporte à medição de capacitância de 1 kHz a 5 MHz, controle automatizado do caminho de retorno e fluxos de trabalho de medição diretamente no wafer.
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  • Analisador de parâmetros de dispositivos semicondutores B1500A / Mainframe do sistema de caracterização de semicondutores

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