송신 유한 임펄스 응답(FIR) 탭을 조정하는 방법

+ 기능적 상호 연결 테스트 솔루션

손실성 피스처를 통한 레인 튜닝 자동화

손실성 전기 피스처 및 인터커넥트는 고속 PAM4 송신 신호가 측정 지점에 도달하기 전에 신호를 저하시켜 아이 개방(eye opening)을 줄이고 정확한 평가를 더 어렵게 만들 수 있습니다. 엔지니어는 송신 FIR(Finite Impulse Response) 탭 설정을 조정하여 이 손실을 보상할 수 있지만 수동 튜닝은 탭 값을 반복적으로 변경한 후 파형을 반복적으로 측정해야 합니다. 레인 수와 지원되는 시그널링 레이트가 증가함에 따라 이 프로세스는 시간이 오래 걸리고 일관되게 반복하기 어려워질 수 있습니다. 엔지니어는 실제 손실 경로를 통과한 후 신호를 측정하고, 전송된 파형을 어떻게 조정해야 하는지 결정하며, 업데이트된 FIR 설정을 소스에 다시 적용하는 메서드가 필요합니다. 또한 튜닝 프로세스에는 디지털 통신 분석기가 수신 파형과 아이를 올바르게 평가할 수 있도록 적절한 타이밍 기준도 필요합니다. 정의된 PRBSQ(Pseudo-Random Binary Sequence Quaternary) 패턴은 튜닝 프로세스 중에 사용되는 자극을 제공하며, 선택된 시그널링 레이트는 최적화해야 하는 탭 구성을 결정합니다. 목표는 추가 측정을 수행하기 전에 특정 피스처나 인터커넥트를 통해 전송된 아이를 개선하는 것입니다.

실용적인 접근 방식에는 반복적인 수동 변경에 의존하는 대신 파형 분석과 송신기 조정 간의 닫힌 연결이 필요합니다. 분석기는 들어오는 PAM4 신호를 측정하고, 새로운 송신 FIR 탭 값을 계산하며, 전송된 신호에 적용할 수 있도록 해당 값을 반환합니다. 그런 다음 엔지니어는 업데이트된 설정으로 아이가 열렸는지 확인하고 결과 아이 통계를 검토합니다. 튜닝은 선택한 전기 레인 및 지원되는 속도에 적용할 수 있으므로 서로 다른 경로를 개별적으로 최적화할 수 있습니다. 설정에서는 분석기 클록 입력 레이트와 일치하는 분할기가 있는 구형파 클록을 제공하기 위해 두 번째 레인을 사용하거나, 분석기가 대체 타이밍 소스로 CDR(Clock Data Recovery)을 사용할 수 있습니다. 엔지니어는 PRBSQ9 및 정의된 신호 타겟 진폭으로 시작한 다음, 초기 튜닝 후 필요에 따라 더 긴 패턴이나 추가 분석기 기능을 사용할 수 있습니다. 첫 번째 튜닝 패스 후에 정밀 타임베이스 측정 및 필터링을 적용하여 결과 신호를 검토할 수도 있습니다. 목표는 적절한 FIR 탭 설정을 결정하고, 해당 설정을 일관되게 적용하며, 후속 신호 무결성 또는 오류 성능 측정으로 넘어가기 전에 결과 아이를 확인하는 데 소요되는 시간을 줄이는 것입니다.

자동 전송 FIR 튜닝 솔루션

키사이트의 FITS-8CH(Functional Interconnect Test Solutions)는 패턴 생성 및 자동 계수 업데이트를 키사이트 디지털 통신 분석기와 통합하여 송신 FIR 탭 튜닝 문제를 해결합니다. 엔지니어가 송신 레인과 지원되는 속도를 선택하고, 손실성 피스처나 인터커넥트를 통해 PRBSQ 패턴을 생성하며, 분석기를 사용하여 결과 PAM4 아이를 평가합니다. FITS-8CH GUI를 통해 Automate Eye Tuning 기능이 측정 및 튜닝 프로세스를 조정합니다. 분석기는 업데이트된 송신 FIR 탭 값을 계산하고 이를 FITS-8CH에 전달하며, FITS-8CH는 새로운 설정을 전송된 신호에 적용합니다. 분석기 입력 레이트에 맞추기 위해 분할기가 있는 구형파 클록을 제공하기 위해 두 번째 레인을 사용하거나 분석기 기반 CDR을 사용할 수 있습니다. 엔지니어가 타겟 신호 진폭과 선택한 시그널링 레이트의 탭 수를 설정한 다음, 튜닝 후 최적화된 아이를 확인하고 아이 통계를 검토할 수 있습니다. 결과 구성 및 측정 데이터를 저장하고 보고할 수 있으므로, 광범위한 신호 무결성 또는 오류 성능 검증을 계속하기 전에 손실성 전기 경로를 통해 개별 레인을 튜닝하는 반복 가능한 방법을 제공합니다.

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