NVM 장치 개발을 가속화하는 방법

견적 받기
장치 전류 분석기
+ 디바이스 전류 분석기
장치 전류 분석기
+ 디바이스 전류 분석기

NVM 스위칭 동작 이해

PCRAM, MRAM 및 RRAM과 같은 새로운 비휘발성 메모리(NVM) 기술은 성능, 신뢰성 및 확장성을 개선하기 위해 과도 스위칭 동작의 정밀한 특성화를 요구합니다. 이러한 디바이스는 종종 100ns 미만의 빠른 Set/Reset 펄스에 의존하며, 이는 정확한 전류 파형 측정을 개발에 필수적으로 만듭니다.

엔지니어는 수백만 번의 스위칭 사이클에 걸쳐 빠른 과도 전류와 장기 신뢰성 동작 모두를 포착해야 합니다. 기존 측정 방식은 충분한 대역폭, 동적 범위 및 메모리 깊이가 부족하여 이러한 복잡한 동작을 효과적으로 분석하는 능력을 제한합니다.

NVM 과도 현상 분석 및 개발 솔루션

고급 반도체 디바이스에서 빠른 과도 전류 동작을 포착하는 것은 스위칭 동역학을 정확하게 관찰하기 위해 고대역폭 측정과 정밀한 타이밍 제어를 요구합니다. 키사이트 CX3324A 디바이스 전류 파형 분석기는 최대 200MHz 대역폭과 초당 1기가샘플(GSa/s) 샘플링을 제공하여 급격한 전류 변화를 상세하게 시각화할 수 있도록 합니다. B1500A 파라미터 분석기와 통합될 때, 이 솔루션은 통합된 설정 내에서 전류-전압(IV), 펄스 IV 및 신뢰성 테스트를 지원합니다. 이러한 기능들은 함께 포괄적인 비휘발성 메모리(NVM) 특성화를 가능하게 하여 엔지니어가 디바이스 성능을 최적화하고, 신뢰성을 개선하며, 개발 워크플로를 가속화하도록 돕습니다.
견적 받기

NVM 과도 분석 및 개발 솔루션의 블록 다이어그램 보기

NVM 장치 개발을 가속화하는 방법

당사의 NVM 과도 분석 및 개발 솔루션용 제품 살펴보기

관련 사용 사례

LED의 IV 특성 평가 방법

To characterize the current and voltage of energy-efficient LEDs, you must be able to generate and measure current and voltage. Learn how to evaluate the IV characteristics of 2-terminal and 3-terminal devices using only source/measure units (SMUs).

자세히 알아보기

광대역 갭 반도체 전력 모듈 테스트 방법

더 높은 전류 및 대역폭에서 작동하는 WBG 반도체 전력 모듈을 테스트하려면 펄스 절연 프로브를 사용한 이중 펄스 테스트가 필요합니다. 이중 펄스 테스트를 사용하여 전력 모듈을 안정적으로 특성화하고 하이 사이드 측정 과제를 해결하는 방법을 알아보십시오.

자세히 알아보기

MCU 절전 모드 전환 전류 분석 방법

Keysight CX3300을 사용하여 절전 모드와 활성 모드 전반에 걸친 MCU 전류 소비량을 분석하고 정량화하여 전력 비효율성을 파악하고 배터리 성능을 최적화합니다.

자세히 알아보기

문의하기 로고

전문가에게 문의하십시오.

적합한 솔루션을 찾는 데 도움이 필요하십니까?

문의하기