차세대 비휘발성 메모리 개발 가속화 | 키사이트 Keysight
어플리케이션 노트
PCRAM, MRAM, RRAM 등 새로운 NVM의 빠른 과도 특성 시각화
CX3300 시리즈 디바이스 전류 파형 분석기
주요 특징:
- 최대 대역폭 : 200 MHz, 샘플링 속도 : 1 GSa/s
- 14/16비트 분해능 및 낮은 노이즈
- 100 pA ~ 100 A의 측정 범위
- 최대 메모리 : 256 Mpts
- 오실로스코프와 유사한 외관과 구성
장점:
- 넓은 대역폭과 동적 범위로 100 ns 미만의 설정/리셋 펄스에서 과도 전류 파형을 명확하게 시각화
- 직관적인 고급 GUI의 다양한 분석 기능을 통해 해당하는 전압 펄스에 대한 과도 전류 응답의 신속한 분석
- 저노이즈 플로어와 우수한 메모리 깊이로 몇 초 안에 1백만 개의 설정/리셋/판독 파형 사이클을 캡처하여 효율적으로 안정성 테스트 수행
CV에 대한 기본 IV 특성화, 펄스형 IV 측정 및 단일 계측기에서의 플래시와 새로운 NVM 안정성 테스트 지원
B1500A 반도체 디바이스 파라메트릭 분석기
주요 특징:
- 0.1 fA ~ 1 A 및 0.5 μV ~ 200 V의 IV 측정 범위
- 1 kHz ~ 5 MHz의 AC 커패시턴스 측정
- 최대 ± 40 V의 전압 펄스 및 임의 파형 생성
- IV 측정과 펄스 생성 간 자동 리소스 전환
- 로드 효과 없이 최대 200 MSa/s의 펄스형 IV/과도 IV 기능
장점:
- IV 및 CV 커브를 정확하게 측정하여 자동화된 파라미터 결과값 지원
- 펄스 스트레스 사이클과 IV 측정 간에 자동으로 전환하여 빠르고 간편하게 내구성, 보유력 등의 신뢰성 테스트 수행
- 펄스형 IV/과도 IV 기능을 사용하여 NBTI/PBTI, RTN(Random Telegraph Noise) 등의 정밀한 측정 지원
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