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TAP 테스트 시퀀스에 LCA 측정을 손쉽게 통합

• 광/전기, 전기/광 및 광/광 스펙트럼 측정용 테스트 단계
• 싱글엔드형 또는 밸런스형 RF 포트가 장착된 디바이스용 테스트 단계
• 측정 설정, 교정, 디임베딩의 알기 쉬운 단계 구성
• TAP 결과 뷰어의 결과 표시용 템플릿

지원되는 장비

• PNA 기반의 광파 콤포넌트 분석기:
• N4373E, N4373D, N4373C, N4373B
• N4375E, N4375D, N4375B
• N4376E, N4376D, N4376B

키사이트 TAP(Test Automation on PathWave)은 독립형으로 사용하거나 상위 테스트 실행 소프트웨어 환경과 함께 사용할 수 있는 최신 Microsoft .NET 기반 어플리케이션입니다. 계측기 플러그인의 테스트 단계는 계측기의 프로그래밍 명령을 사용하지 않고도 워크플로우 시퀀스에 추가할 수 있습니다. LCA 플러그인의 테스트 단계는 PNA 계측기와 LCA 광학 하드웨어 및 소프트웨어에 자동으로 연결되므로 훨씬 더 손쉽게 자동화할 수 있습니다. LCA 측정에 필요한 PNA 설정은 테스트 단계에서 쉽게 구성할 수 있습니다.

이 소프트웨어를 독립형 소프트웨어로 또는 키사이트 오실로스코프와 함께 사용해서 복잡한 변조 광 신호를 분석할 수 있습니다.

• 세부적인 장애 분석을 포함하여 이중 편광 IQ 신호에 대한 오류 벡터 크기(EVM)를 측정해 보십시오. 표준을 준수하는 EVM 측정은 ITU G.698.2와 최근의 OIF 400ZR 초안을 따릅니다.
• 표준 및 사용자 정의 성상도에 대한 지원을 받으십시오.
• 분석 소프트웨어로 설정 시간을 줄일 수 있습니다.
• 변조 형식 투명 전처리 알고리즘에는 Stokes 공간의 편극 역다중화가 포함됩니다.
• 인터페이스를 통해 전처리 체인에 자체 MATLAB 알고리즘을 추가할 수 있습니다.
• 레이저 라인폭, 광 통계 테이블, 3D Poincaré 편극 분석과 같은 측정 도구가 포함됩니다.
• 하드웨어의 완벽한 통합으로 다양한 장비 구성에서 유연성을 높일 수 있습니다.
• 개연적인 성상도 성형을 갖는 신호를 위한 분석 도구가 포함됩니다.

복잡한 변조 광 신호의 분석을 위한 표준 소프트웨어

키사이트의 광 변조 분석기(OMA) 포트폴리오에 속하는 분석 소프트웨어를 계측 없이 PC에서 사용할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 복잡한 변조 광 신호에 대한 고급 신호 처리 알고리즘과 같은 분석 기능도 제공합니다.

키사이트 OMA와 함께 이 소프트웨어를 사용해서 측정 후 .sdf, .mat 또는 .csv 파일 형태로 저장된 원시 데이터를 처리하고 분석해 보십시오. 이 기능을 사용하면 바로 장비 앞에서 작업 중인 것처럼 데이터 작업이 가능합니다. MATLAB 컴파일러를 사용하여 자체 신호 처리 알고리즘을 개발하고 오프라인으로 테스트해 보십시오. 이 소프트웨어는 또한 저장된 파일을 기반으로 복잡한 광 변조의 기본 개념과 고급 개념을 배울 수 있는 효과적인 도구입니다.

독립형 소프트웨어 설치의 이점으로는 다음과 같은 것들이 있습니다.

• 하드웨어 중단 없이 프레젠테이션을 위해 다양한 분석 파라미터를 사용한 후처리 기록
• 복잡한 광 전송에 대한 실습형 학습
• 키사이트의 신호 처리 알고리즘의 오프라인 사용

스코프 하드웨어 연결의 이점으로는 다음과 같은 것들이 있습니다.

• 키사이트 UXR-시리즈, Z-시리즈 또는 90000 시리즈 실시간 오실로스코프와 OMA 벡터 분석 소프트웨어와 함께 사용해서 자체 수신기 하드웨어를 분석할 수 있습니다.
• 수신기 교정 값(스큐, 이득 불균형 등)을 활용해서 이러한 파라미터의 감도를 평가해 보십시오.
• 실제 응용 조건에서 자체 IQ 하이브리드를 테스트할 수 있습니다.

구매 전 체험

1. 포토닉 어플리케이션 패키지 관리자를 사용하여 최신 소프트웨어 버전을 다운로드하십시오.
2. 여기서 N4391SALC 30일 체험판 라이센스를 다운로드하십시오.
3. 아직 89601200C 및 89601AYAC에 대한 유효한 라이센스가 없다면 여기서 30일 체험판 라이센스를 신청할 수 있습니다.

다른 관련 제품의 경우 기본 포토닉스 포트폴리오와 UXR-시리즈 오실로스코프를 확인해 보십시오.

• >40가지 변조 형식: FSK, PSK, QAM, 맞춤형 APSK
• >30가지 표준 사전 설정: Bluetooth, ZigBee, TETRA, Wi-SUN
• >10가지 필터 유형: RC, RRC, Gaussian, 사용자 정의
• EVM, 성상도 등에서 측정된 값과 이상적 값 비교
• IQ 오프셋, 게인 불균형 같은 장애 파악
• 적응형 이퀄라이제이션 필터로 선형 오류 식별
• 비표준 사용자 정의 IQ 신호(맞춤형 IQ)에 대한 디지털 변조 분석 수행
• TEDS(TETRA Enhanced Data Services) 변조 분석 수행

통합 광자를 위한 완전 자동식 웨이퍼 및 칩 규모 조정 테스트 솔루션

TAP 테스트 시퀀스 내 웨이퍼 프로버 컨트롤의 쉬운 통합

• 광학 및 전기 프로브 포지셔닝 및 정렬을 위한 테스트 단계
• 어레이 / 단일 광섬유 프로브, 에지 및 표면 커플링, RF/DC 프로브 및 유연한 프로브 방향(동/서/북/남) 지원
• 자동화된 디바이스 스테핑 및 프로버 상태 제어
• 측정 테스트 계획 및 디바이스 데이터 관리(디바이스 좌표, 디바이스 메타 매개변수 및 테스트 조건 가져오기 / 내보내기 /편집)

지원되는 웨이퍼 프로버

• Formfactor CM300xi와 Velox 소프트웨어 및 실리콘 광자 도구

최신 Microsoft .NET 기반 어플리케이션인 키사이트 PathWave 테스트 자동화(TAP)는 계측기 수준의 프로그래밍 명령 없이 계측기 플러그인을 통해 워크플로 시퀀스를 추가합니다. N7700210C 웨이퍼 프로버 플러그인은 Formfactor 반자동식 프로브 스테이션 하드웨어와 Formfactor Velox 및 실리콘 광자 도구 소프트웨어에 대한 인터페이스를 처리하여 자동화를 한층 더 간소화합니다. 테스트 단계가 계측기 테스트 이행 단계와 결합될 수 있는 테스트 계획 내에서 웨이퍼 척 이동, 프로브 포지셔닝, 정렬 작업을 실현합니다. 포지셔닝과 RF 및 광학 프로브에 대해 웨이퍼 프로버 설정을 쉽게 구성할 수 있습니다. 독립적으로 사용하거나 더 높은 수준의 테스트 실행 소프트웨어 환경과 함께 사용할 수 있도록 설계되었습니다.

키사이트의 웨이퍼 프로버 샘플 테스트 계획과 프로버 단계
 

디바이스 요소 목록 및 요소 광학 IO 포트 특성 예시

• 편극 종속적 삽입 손실과 광학\전기 반응성 매개변수의 단일 스위핑 다중 채널 측정
• 주축(TE/TM 또는 s/p) 기준 IL, PDL, IL, O/E 반응성(평균, 최소/최대 대 편극), 반사 손실, 그 외 파생 파라미터 생성
• FLS 측정(추가 N7700102C 라이선스 불필요)
• 프로브 정렬, 디바이스 최적화 또는 고정 편극 스캔을 위한 정적 편극 설정
• 단일 스위핑 PDL 도중 빠른 편극 스위칭을 통해 진동 및 드리프트에 대한 감도 최소화
• 60 dB의 동적 범위, 전력 범위 스티칭을 통해 > 80 dB까지 확장 가능

• Fully error-corrected time domain reflection or transmission response
• Gating available to remove unwanted responses (from test fixtures for example)
• Transform frequency domain to the time domain or time domain to the frequency domain
• Beneficial in tuning many filter types, including cavity-resonator filters
• Compatible with all the USB vector network analyzer

The time domain capability allows you to measure the time domain response of a device. The analyzer can transform frequency domain data to the time domain or time domain data to the frequency domain.

The transform used by the analyzer resembles time domain reflectometry (TDR) measurements. TDR measurements, however, are made by launching an impulse or step into the test device and observing the response in time with a receiver similar to an oscilloscope. In contrast, the analyzer makes swept frequency response measurements, and mathematically transforms the data into a time domain reflectometer-like display.

The S97010B software is compatible with the Keysight Streamline Series Vector Network Analyzers.

Learn more about Keysight Network Analyzer Software

• 최대 409,601 포인트 FFT를 사용한 시간 및 주파수 도메인 분석
• 동시 및 다중 측정과 유연한 트레이스 및 디스플레이
• AM, FM, PM 신호의 아날로그 복조
• AM/AM, AM/PM, 이득 압축(전력 앰프용)
• 레벨, 슬로프, 지연 및 홀드 오프의 선택이 가능한 트리거
• 문제 해결을 위해 수집한 신호 파형 기록 및 재생
  
• 단순 광대역 멀티톤 자극 신호를 사용한 그룹 지연 측정(채널 품질 mod 분석)
• 키사이트 N7621B Signal Studio 소프트웨어에서/로 멀티톤 자극 정의 가져오기/내보내기(채널 품질 mod 분석)
• 측정된 신호 데이터를 사용한 입력 자극 모델 교정(채널 품질 mod 분석)
• 반복 가능한 단순 위상 및 진폭 채널 응답 분석 수행(채널 품질 mod 분석)
• 다중 측정에 대한 동기화(동시) 또는 순차적 수집 모드 지원

The Keysight N4917DJCA solution consists of the software application, an M8050A 120 Gbaud high-performance bit error ratio tester, an interference source, an optical reference transmitter, an optical sampling oscilloscope, a tunable laser source, and an optical attenuator. Automated calibration ensures a high level of accuracy and repeatability and speeds up calibration and test time significantly compared to manual operation.

Capabilities

• Meets IEEE 802.3 standard for stressed optical receiver characterization for 800G and 1.6T modules with 100G and 200G / λ optical interfaces.
• Follows the test procedures described in IEEE 802.3 clauses 124, 167, 140, 151,180, 181, 182, and 183 (IEEE 802.3cn / cu / db / df and dj projects).
• Provides a turnkey solution that automates all required instruments.
• Ensures repeatable and stable calibration of optical stressed PAM4 signals.
• Enables adjustable target values for outer extinction ratio, transmission and dispersion eye closure, and optical modulation amplitude.

Functionalities

• Provides unified instrument control and settings with the N4917DJCA software.
• Automates stress signal calibration, receiver sensitivity, and jitter tolerance measurements.
• Enables customized device testing and reporting via device-under-test control and scripting interface.
• Includes adjustable stress mix for user-defined calibration.
• Offers flexible calibration based on customer-defined parameter settings.