複数の測定機器間の測定値を相関させる方法

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複数計測器による測定の相関

複雑なシステムの検証では、イベントが設計全体にどのように伝搬するかを把握するために、複数の機器からの測定が必要になることがよくあります。測定が独立してキャプチャされる場合、観察された動作が被測定デバイス、別のサブシステム、または測定タイミングの違いのいずれに起因するかを判断することが困難になります。

共通のタイミングリファレンスがないと、エンジニアは機器間で波形のキャプチャ、トリガーイベント、および測定結果を関連付けることができない場合があります。これにより、断続的な動作のデバッグ、イベントシーケンスの検証、およびシステムレスポンスの比較が大幅に困難になります。

測定相関ソリューション

複数機器間の測定の相関付けには、各機器が同一のシステムイベントを確実にキャプチャできるように、共通のタイミングリファレンスを確立する必要があります。Keysightパルスジェネレータは、テストセットアップ全体で波形集録、イベントタイミング、および測定ウィンドウを揃える再現性の高いトリガー信号を提供します。エンジニアは、オシロスコープのキャプチャ、アナライザの測定、カウンタのタイミング、およびデバイスの刺激を調整して、複数の機器からの結果を同じイベントに対して比較できます。このアプローチにより、タイミング解析の信頼性が向上し、根本原因の調査が簡素化され、複雑な測定環境全体で一貫したシステムレベルの検証が可能になります。
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