システム検証時に電源レール上のAC成分とDC成分を比較する方法

ウェブ見積
必須の卓上型デジタルマルチメーター
+ Essential ベンチトップ デジタルマルチメータ
必須の卓上型デジタルマルチメーター
+ Essential ベンチトップ デジタルマルチメータ

リップルとDCレベルの同時比較

システム検証では、エンジニアは電源レールにおける公称DCレベルだけでなく、AC成分やリップルがレール全体の挙動に影響を与えているかどうかを理解する必要があります。測定に個別のセットアップ手順、繰り返しの再構成、または選択したデジタルマルチメータ(DMM)の測定アプローチが評価対象の信号に適しているという確信が持てない場合、これはより困難になります。

1つの検証ワークフローでACとDCの挙動を比較することで、チームはレール性能をより効率的に評価し、サブシステム検証中に問題を早期に発見できます。より明確な測定アプローチは、不要なセットアップ変更を減らし、結果の解釈を改善し、繰り返しの検証タスク全体で電源レールチェックの比較を容易にします。

電源レール比較ソリューション

システム検証中に電源レール上のACおよびDCコンポーネントを比較することは、エンジニアが不要なセットアップ手順を追加することなく、変化するレール挙動への可視性を向上させるデジタルマルチメータのワークフローを使用できる場合に容易になります。キーサイトのEssentialベンチトップ・デジタルマルチメータは、5.5桁分解能、最大190回/秒の測定速度、最大50,000件の測定値用メモリを備え、エンジニアがレールレベルを検証し、経時的な変化を比較し、繰り返しの検証タスク中の中断を減らすのに役立ちます。
ウェブ見積

電源レール比較ソリューションのブロック図を参照

電源レール比較ソリューションのブロック図

当社の電源レール比較ソリューション向け製品を見る

関連するユースケース

直流電圧の直線性を確認する方法

キーサイトのPro Benchtopデジタルマルチメータを使用し、比測定および高精度DMM転送標準法を用いて直流電圧の直線性を検証することで、校正ラボのワークフローにおける不確かさを低減します。

詳細はこちら

高精度な校正測定を改善する方法

精密測定ベンチや標準物質ラボのワークフローにおいて、より安定した再現性の高い高精度測定を実現し、校正の信頼性を向上させます。

詳細はこちら

複数の量子ビットにバイアスをかける方法

量子 において複数の量子ビットを制御するためのDC 電圧供給には、量子ビットのデコヒーレンスを防止し量子ビットの完全性を維持することが必要です。低温恒温器に対する低ノイズ電圧供給とソースメーターの配置に関する量子ビットの特性評価手法について学びます。

詳細はこちら

お問い合わせ ロゴ

当社のエキスパートにお問い合わせください。

所望のソリューションを見つけるのにお困りですか？

お問い合わせ